Hans-Joachim Wunderlich

عدد مرات الاقتباسات

	الكل	قبل 2020
اقتباسات	9042	1290
h-index	49	16
i10-index	177	45

500

250

125

375

1988198919901991199219931994199519961997199819992000200120022003200420052006200720082009201020112012201320142015201620172018201920202021202220232024202541 22 59 50 85 110 76 88 93 69 108 99 174 207 292 296 322 299 233 277 270 267 309 357 351 349 483 432 492 405 473 366 327 309 264 216 165 8

عدد المنشورات المتاحة للجميع

عرض المجموعة جميعها

132 مقالة

12 مقالة

المقالات البحثية المتاحة للجميع

المقالات البحثية غير المتاحة للجميع

تمّ اختيار المعلومات استنادًا إلى تفويضات التمويل

المؤلفون المشاركون

Sybille HellebrandUniversity of Paderborn, Germanyبريد إلكتروني تم التحقق منه على uni-paderborn.de
Michael A. KochteNumascale AS, prev. Univ. Stuttgart Germanyبريد إلكتروني تم التحقق منه على iti.uni-stuttgart.de
Bernd BeckerProfessor of Computer Science, University of Freiburgبريد إلكتروني تم التحقق منه على informatik.uni-freiburg.de
Stefan HolstKyushu Institute of Technologyبريد إلكتروني تم التحقق منه على ci.kyutech.ac.jp
Patrick GirardLIRMMبريد إلكتروني تم التحقق منه على lirmm.fr
Eric SchneiderUniversity of Stuttgart, Institute of Computer Architecture and Computer Engineeringبريد إلكتروني تم التحقق منه على iti.uni-stuttgart.de
Rafal BaranowskiRobert Bosch GmbHبريد إلكتروني تم التحقق منه على iti.uni-stuttgart.de
Jörg HenkelProfessor of Computer Science, Karlsruhe Institute of Technologyبريد إلكتروني تم التحقق منه على kit.edu
Xiaoqing WenKyushu Institute of Technologyبريد إلكتروني تم التحقق منه على cse.kyutech.ac.jp
Lars BauerResearch Group Leader, Computer Science, Karlsruhe Institute of Technology (KIT)بريد إلكتروني تم التحقق منه على kit.edu
Arnaud VirazelLIRMM - Univ. Montpellier / CNRSبريد إلكتروني تم التحقق منه على lirmm.fr
Jürgen TeichFull Professor, Computer Science, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnbergبريد إلكتروني تم التحقق منه على cs.fau.de
Mehdi B. TahooriProfessor of Computer Science, Karlsruhe Institute of Technology, Germanyبريد إلكتروني تم التحقق منه على kit.edu
Norbert WehnUniversity of Kaiserslauternبريد إلكتروني تم التحقق منه على eit.uni-kl.de
Michael GlaßProfessor at Ulm Universityبريد إلكتروني تم التحقق منه على uni-ulm.de
Matteo SONZA REORDAPolitecnico di Torino, Dept. of Control and Computer Engineeringبريد إلكتروني تم التحقق منه على polito.it
Nur ToubaProfessor of Electrical and Computer Engineering, University of Texas at Austinبريد إلكتروني تم التحقق منه على ece.utexas.edu

متابعة

Hans-Joachim Wunderlich

Professor Emeritus of Computer Science, University of Stuttgart

بريد إلكتروني تم التحقق منه على informatik.uni-stuttgart.de - الصفحة الرئيسية

Computer Engineering Computer Architecture Dependability Test Fault Tolerance


عنوان ترتيب حسب الاقتباسات ترتيب حسب السنة الترتيب حسب العنوان	عدد مرات الاقتباسات عدد مرات الاقتباسات	السنة
Minimized Power Consumption for Scan-Based BIST‏ S Gerstendörfer, HJ Wunderlich‏ IEEE International Test Conference (ITC'99) 30, 77-84, 1999‏	512	1999
Bit-flipping BIST‏ HJ Wunderlich, G Kiefer‏ Proceedings of International Conference on Computer Aided Design, 337-343, 1996‏	315	1996
Multiple distributions for biased random test patterns‏ HJ Wunderlich‏ IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and …, 1990‏	310	1990
Power-aware design-for-test‏ HJ Wunderlich, CG Zoellin‏ Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices, 117-146, 2009‏	307*	2009
A modified clock scheme for a low power BIST test pattern generator‏ P Girard, L Guiller, C Landrault, S Pravossoudovitch, HJ Wunderlich‏ Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 306-311, 2001‏	214	2001
Pattern generation for a deterministic BIST scheme‏ S Hellebrand, B Reeb, S Tarnick, HJ Wunderlich‏ Proceedings of IEEE International Conference on Computer Aided Design (ICCAD …, 1995‏	201	1995
A mixed mode BIST scheme based on reseeding of folding counters‏ S Hellebrand, HG Liang, HJ Wunderlich‏ Journal of Electronic Testing 17, 341-349, 2001‏	195	2001
Low power serial built-in self-test‏ A Hertwig, HJ Wunderlich‏ Proceedings of IEEE European Test Workshop, 1998, 1998‏	175	1998
Two-dimensional test data compression for scan-based deterministic BIST‏ HG Liang, S Hellebrand, HJ Wunderlich‏ Journal of Electronic Testing 18, 159-170, 2002‏	158	2002
PROTEST: A tool for probabilistic testability analysis‏ HJ Wunderlich‏ 22nd ACM/IEEE Design Automation Conference, 204-211, 1985‏	146	1985
Adaptive Debug and Diagnosis Without Fault Dictionaries‏ S Holst, HJ Wunderlich‏ IEEE European Test Symposium (ETS'07) 12, 7-12, 2007‏	145	2007
An analytical approach to the partial scan problem‏ A Kunzmann, HJ Wunderlich‏ Journal of Electronic Testing 1, 163-174, 1990‏	143	1990
X-Masking During Logic BIST and its Impact on Defect Coverage‏ Y Tang, HJ Wunderlich, P Engelke, I Polian, B Becker, J Schlöffel, ...‏ IEEE Transactions on Very Large Scale Integrated (VLSI) Systems 14 (2), 193-202, 2006‏	132	2006
Self test using unequiprobable random patterns‏ HJ Wunderlich‏ Verlag nicht ermittelbar, 1987‏	130	1987
Design and architectures for dependable embedded systems‏ J Henkel, L Bauer, J Becker, O Bringmann, U Brinkschulte, S Chakraborty, ...‏ Proceedings of the seventh IEEE/ACM/IFIP international conference on …, 2011‏	127	2011
Application of deterministic logic BIST on industrial circuits‏ G Kiefer, H Vranken, E Jan Marinissen, HJ Wunderlich‏ Journal of Electronic Testing 17, 351-362, 2001‏	126	2001
An integrated built-in test and repair approach for memories with 2D redundancy‏ P Ohler, S Hellebrand, HJ Wunderlich‏ 12th IEEE European Test Symposium (ETS'07), 91-96, 2007‏	123	2007
Zuverlässigkeit mechatronischer Systeme: Grundlagen und Bewertung in frühen Entwicklungsphasen‏ B Bertsche, P Göhner, U Jensen, W Schinköthe, HJ Wunderlich‏ Springer-Verlag, 2009‏	117	2009
Accumulator based deterministic BIST‏ R Dorsch, HJ Wunderlich‏ Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No. 98CH36270 …, 1998‏	112	1998
Mixed-Mode BIST Using Embedded Processors‏ S Hellebrand, HJ Wunderlich, A Hertwig‏ IEEE International Test Conference (ITC'96) 27, 195-204, 1996‏	108	1996

يتعذر على النظام إجراء العملية في الوقت الحالي. عاود المحاولة لاحقًا.

مقالات 1–20

عدد الاقتباسات في العام

اقتباسات مكررة

الاقتباسات المدمجة

إضافة مؤلفين مشاركينالمؤلفون المشاركون

متابعة

عدد مرات الاقتباسات

المؤلفون المشاركون