Получаване на мой собствен потребителски профил
Позовавания
Всички | От 2020 | |
---|---|---|
Позовавания | 1299 | 1002 |
h-индекс | 13 | 12 |
i10-индекс | 14 | 12 |
Публичен достъп
Преглед на всички8 статии
0 статии
налични
неналични
Въз основа на изисквания при финансирането
Съавтори
Minghao QiPurdue UniversityПотвърден имейл адрес: purdue.edu
Andrew M. WeinerProfessor of Electrical and Computer Engineering, Purdue UniversityПотвърден имейл адрес: purdue.edu
Sangsik KimAssociate Professor of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and TechnologyПотвърден имейл адрес: kaist.ac.kr
Yi XUANUniversity of Pittsburgh School of MedicineПотвърден имейл адрес: pitt.edu
Jose Jaramillo-VillegasPurdue University, Universidad Tecnológica de PereiraПотвърден имейл адрес: utp.edu.co
Abdullah Al NomanFailure Analysis R&D Engineer at Intel CorporationПотвърден имейл адрес: intel.com
Victor YurlovPrincipal Engineer of Samsung Electromechanics (Optics, MEMS, ISP)Потвърден имейл адрес: samsung.com
Vladimir A. AksyukProject Leader, Physical Measurement Laboratory, NISTПотвърден имейл адрес: nist.gov
Thomas LeBrunGroup Leader for Photonics and Optomechanics, NISTПотвърден имейл адрес: nist.gov
David LongNational Institute of Standards and TechnologyПотвърден имейл адрес: nist.gov
Junyeob SongNational Institute of Standards and TechnologyПотвърден имейл адрес: NIST.GOV
Nan Ei Yu (N. E. Yu)Gwngju Institute of Science and Technology (GIST)Потвърден имейл адрес: gist.ac.kr