Получаване на мой собствен потребителски профил
Позовавания
Всички | От 2020 | |
---|---|---|
Позовавания | 20117 | 3495 |
h-индекс | 74 | 32 |
i10-индекс | 236 | 77 |
Публичен достъп
Преглед на всички22 статии
3 статии
налични
неналични
Въз основа на изисквания при финансирането
Съавтори
G J ShifletProfessor of Materials Science, University of VirginiaПотвърден имейл адрес: virginia.edu
Terry TrittProfessor of Physics, Clemson UniversityПотвърден имейл адрес: g.clemson.edu
William L. JohnsonCalifornia Institute of TechnologyПотвърден имейл адрес: caltech.edu
Takeshi EgamiProfessor of Materials Science and Physics, University of TennesseeПотвърден имейл адрес: utk.edu
Jack SimonsonFarmingdale State CollegeПотвърден имейл адрес: farmingdale.edu
Wenjie XieTechnische Universität DarmstadtПотвърден имейл адрес: mr.tu-darmstadt.de
SA WolfUniversity of VirginiaПотвърден имейл адрес: virginia.edu
Despina LoucaProfessor of Physics, University of VirginiaПотвърден имейл адрес: virginia.edu
Jian HeClemson UniversityПотвърден имейл адрес: clemson.edu
Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaПотвърден имейл адрес: virginia.edu
J GopalakrishnanSolid State and structural Chemistry Unit, Indian Institute of Science, Bangalore, IndiaПотвърден имейл адрес: iisc.ac.in
Di WuShaanxi Normal University/Southern University of Science and Technology/University of VirginiaПотвърден имейл адрес: snnu.edu.cn
Xinfeng Tang (唐新峰)Wuhan University of TechnologyПотвърден имейл адрес: whut.edu.cn
Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DПотвърден имейл адрес: samsung.com
anke weidenkaffTU DarmstadtПотвърден имейл адрес: mr.tu-darmstadt.de
Rama VenkatasubramanianJohns Hopkins University Applied Physics LabПотвърден имейл адрес: jhuapl.edu
Jiwei LuAFOSR