Založit si vlastní profil
Veřejný přístup
Zobrazit všechny2 články
11 článků
dostupné
nedostupné
Vychází ze zplnomocnění pro financování
Spoluautoři
Hao LuoHarbin Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: hit.edu.cn
Shen YinNorwegian University of Science and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: ntnu.no
Yuchen JiangHarbin Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: hit.edu.cn
Jilun TianHarbin Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: stu.hit.edu.cn
Xiang LiNortheastern University at QinhuangdaoE-mailová adresa ověřena na: neuq.edu.cn
Shimeng WuHarbin Institute of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: stu.hit.edu.cn
Okyay KaynakE-mailová adresa ověřena na: boun.edu.tr
Mo-Yuen ChowNorth Carolina State UniversityE-mailová adresa ověřena na: ncsu.edu
Cong-Sheng HuangNational Taipei University of TechnologyE-mailová adresa ověřena na: mail.ntut.edu.tw
Leopoldo García FranqueloProfessor Dept. of Electronics Engineering, Universidad de Sevilla (University of Seville), SpainE-mailová adresa ověřena na: us.es
Sergio VazquezAssociate Professor (Universidad de Sevilla)E-mailová adresa ověřena na: us.es
Juan Rodriguez AndinaProfessor, Electronic TechnologyE-mailová adresa ověřena na: uvigo.es
Yiliu Liu(刘一骝)Norwegian University of Science and TechnologyE-mailová adresa ověřena na: ntnu.no
Jose I. LeonUniversity of Seville