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Koautoren
- james drewniakMissouri University of Science and TechnologyBestätigte E-Mail-Adresse bei mst.edu
- SERGIU RADUORACLEBestätigte E-Mail-Adresse bei oracle.com
- Jun FanMissouri University of Science and TechnologyBestätigte E-Mail-Adresse bei mst.edu
- Etienne SicardProfessor, electronics & computer engineeringBestätigte E-Mail-Adresse bei insa-toulouse.fr
- David PommerenkeProfessor of Electrical Engineering, Graz University of TechnologyBestätigte E-Mail-Adresse bei ieee.org
- Xiaoning YeIntel CorpBestätigte E-Mail-Adresse bei intel.com
- Xinbo HeApple IncBestätigte E-Mail-Adresse bei g.clemson.edu
- Amod OgaleClemson UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei clemson.edu
- Sonia Ben DhiaLAAS CNRSBestätigte E-Mail-Adresse bei insa-toulouse.fr
- Mohamed RamdaniEnseignant-Chercheur, ESEOBestätigte E-Mail-Adresse bei eseo.fr
- Antonio OrlandiProfessor of Signal Integrity, University of L'AquilaBestätigte E-Mail-Adresse bei univaq.it
- Dexin ZhangHitachi Automotive Systems Americas IncBestätigte E-Mail-Adresse bei hitachi-automotive.us
- Francesca MaradeiSapienza UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei uniroma1.it
- Donald C Wunsch IIMissouri University of Science and TechnologyBestätigte E-Mail-Adresse bei mst.edu
- Ji ChenDepartment of Electrical and Computer Engineering, University of HoustonBestätigte E-Mail-Adresse bei uh.edu
- Vijay KasturiStaff Engineer at Intel CorporationBestätigte E-Mail-Adresse bei intel.com
- Morten SørensenFORCE TechnologyBestätigte E-Mail-Adresse bei forcetechnology.com
- Min Cheol ParkSamsung Electro MechanicsBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
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Todd Hubing
Professor Emeritus, Clemson University
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