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Koautoren
Junfei XieAssociate Professor, San Diego State UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei sdsu.edu
Gu YixinUniversity of Texas at ArlingtonBestätigte E-Mail-Adresse bei uta.edu
Mushuang LiuUniversity of MissouriBestätigte E-Mail-Adresse bei missouri.edu
Neha DawarSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
Boon Loong NgSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
Jienan ChenUniversity of Electronic Science and Technology of ChinaBestätigte E-Mail-Adresse bei uestc.edu.cn
F.L. Lewisprofessor of electrical engineering, The University of Texas at ArlingtonBestätigte E-Mail-Adresse bei uta.edu
Jing YanYanshan UniversityBestätigte E-Mail-Adresse bei ysu.edu.cn
Yuming ZhuSamsung Research AmericaBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com
Jianzhong (Charlie) ZhangSamsungBestätigte E-Mail-Adresse bei samsung.com