Tino Hofmann

Παρατίθεται από

	Όλα	Από το 2020
Παραθέσεις	4050	1510
h-index	36	19
i10-index	87	44

380

190

285

20022003200420052006200720082009201020112012201320142015201620172018201920202021202220232024202516 18 25 14 34 35 47 55 81 155 147 224 215 224 243 377 274 331 312 308 280 282 299 29

Δημόσια πρόσβαση

Προβολή όλων

72 άρθρα

12 άρθρα

διαθέσιμα

μη διαθέσιμα

Σύμφωνα με εντολές χρηματοδότησης

Συν-συγγραφείς

Mathias SchubertUniversity of Nebraska-LincolnΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα engr.unl.edu
Vanya DarakchievaLinkoping UniversityΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα ifm.liu.se
Glenn BoremanUniversity of North Carolina at CharlotteΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα uncc.edu
Daniel SchmidtIBM ResearchΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα ibm.com
Yanzeng LiUniversity of ChicagoΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα uchicago.edu
Marius GrundmannUniversität LeipzigΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα physik.uni-leipzig.de
Michael LorenzUniversität Leipzig, Felix-Bloch-Institut für FestkörperphysikΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα physik.uni-leipzig.de
Venkata M VooraSr Eng Product EngnΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα globalfoundries.com
Daniel FullagerPrincipal Systems Engineer, Raytheon TechnologiesΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα raytheon.com
Ralph SkomskiΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα neb.rr.com
N. Ben SedrineAveiro (Portugal), Linköping (Sweden), Lisbon (Portugal), Tunis (Tunisia)Η διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα ua.pt
Alexander SinitskiiProfessor of Chemistry, University of Nebraska - LincolnΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα unl.edu
Angela PannierSwarts Family Chair in Biological Systems EngineeringΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα unl.edu
Chamseddine BouhafsINESC Microsistemas e NanotecnologiasΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα inesc-mn.pt
Heidemarie SchmidtTechnische Universität ChemnitzΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα etit.tu-chemnitz.de
David S. HageHewett University Professor of Chemistry, University of NebraskaΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα unl.edu
Pablo EsquinaziUniversity of LeipzigΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα physik.uni-leipzig.de
Alexey LipatovAssistant Professor, South Dakota School of Mines and Technology, University of Nebraska - LincolnΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα sdsmt.edu
Charles RiceUniversity of Nebraska-LincolnΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα huskers.unl.edu
Kurt GaskillInstitute for Research in Electronics and Applied Physics, University of Maryland, College Park, MD

Παρακολούθηση

Tino Hofmann

University of North Carolina at Charlotte

Η διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα uncc.edu - Αρχική σελίδα

THz-IR-VUV Ellipsometry Optical Hall Effect III-V semiconductors metamaterials thin-film


Τίτλος Ταξινόμηση με βάση τις αναφορές Ταξινόμηση κατά έτος Ταξινόμηση κατά τίτλο	Παρατίθεται από Παρατίθεται από	Έτος
Anisotropy, phonon modes, and free charge carrier parameters in monoclinic -gallium oxide single crystals M Schubert, R Korlacki, S Knight, T Hofmann, S Schöche, V Darakchieva, ... Physical Review B 93 (12), 125209, 2016	222	2016
Ellipsometry at the Nanoscale M Losurdo, K Hingerl Springer, 2013	219	2013
Ellipsometry of functional organic surfaces and films K Hinrichs, KJ Eichhorn Springer, 2018	158	2018
Transient Absorption Measurements on Anisotropic Monolayer ReS₂ Q Cui, J He, MZ Bellus, M Mirzokarimov, T Hofmann, HY Chiu, M Antonik, ... Small 11 (41), 5565-5571, 2015	121	2015
Variable-wavelength frequency-domain terahertz ellipsometry T Hofmann, CM Herzinger, A Boosalis, TE Tiwald, JA Woollam, ... Review of Scientific Instruments 81, 023101, 2010	116	2010
Protein adsorption on and swelling of polyelectrolyte brushes: A simultaneous ellipsometry-quartz crystal microbalance study E Bittrich, KB Rodenhausen, KJ Eichhorn, T Hofmann, M Schubert, ... Biointerphases 5, 159, 2010	114	2010
Generalized far-infrared magneto-optic ellipsometry for semiconductor layer structures: determination of free-carrier effective-mass, mobility, and concentration parameters in … M Schubert, T Hofmann, CM Herzinger JOSA A 20 (2), 347-356, 2003	111	2003
Optical, structural, and magnetic properties of cobalt nanostructure thin films D Schmidt, AC Kjerstad, T Hofmann, R Skomski, E Schubert, M Schubert Journal of Applied Physics 105 (11), 113508-113508-7, 2009	96	2009
Monoclinic optical constants, birefringence, and dichroism of slanted titanium nanocolumns determined by generalized ellipsometry D Schmidt, B Booso, T Hofmann, E Schubert, A Sarangan, M Schubert Applied Physics Letters 94, 011914, 2009	94	2009
Generalized ellipsometry for monoclinic absorbing materials: determination of optical constants of Cr columnar thin films D Schmidt, B Booso, T Hofmann, E Schubert, A Sarangan, M Schubert Optics letters 34 (7), 992-994, 2009	85	2009
Terahertz magneto-optic generalized ellipsometry using synchrotron and blackbody radiation T Hofmann, U Schade, CM Herzinger, P Esquinazi, M Schubert Review of scientific instruments 77, 063902, 2006	76	2006
Invited Article: An integrated mid-infrared, far-infrared, and terahertz optical Hall effect instrument P Kühne, CM Herzinger, M Schubert, JA Woollam, T Hofmann Review of Scientific Instruments 85 (7), 2014	67	2014
Polaron and phonon properties in proton intercalated amorphous tungsten oxide thin films MF Saenger, T Höing, BW Robertson, RB Billa, T Hofmann, E Schubert, ... Physical Review B—Condensed Matter and Materials Physics 78 (24), 245205, 2008	67	2008
Infrared dielectric response of nanoscribe IP-dip and IP-L monomers after polymerization from 250 cm⁻¹ to 6000 cm⁻¹ DB Fullager, GD Boreman, T Hofmann Optical Materials Express 7 (3), 888-894, 2017	66	2017
Terahertz ellipsometry and terahertz optical-Hall effect T Hofmann, CM Herzinger, JL Tedesco, DK Gaskill, JA Woollam, ... Thin Solid Films 519 (9), 2593-2600, 2011	66	2011
Temperature dependent effective mass in AlGaN/GaN high electron mobility transistor structures T Hofmann, P Kühne, S Schöche, T Chen Jr, U Forsberg, E Janzén, ... Applied Physics Letters 101 (19), 2012	65	2012
Optical Hall effect—model description: tutorial M Schubert, P Kühne, V Darakchieva, T Hofmann JOSA A 33 (8), 1553-1568, 2016	63	2016
Resistive hysteresis and interface charge coupling in BaTiO-ZnO heterostructures VM Voora, T Hofmann, M Brandt, M Lorenz, M Grundmann, N Ashkenov, ... Applied Physics Letters 94, 142904, 2009	63	2009
Infrared dielectric anisotropy and phonon modes of rutile TiO2 S Schöche, T Hofmann, R Korlacki, TE Tiwald, M Schubert Journal of Applied Physics 113 (16), 2013	58	2013
Combined optical and acoustical method for determination of thickness and porosity of transparent organic layers below the ultra-thin film limit KB Rodenhausen, T Kasputis, AK Pannier, JY Gerasimov, RY Lai, ... Review of Scientific Instruments 82, 103111, 2011	55	2011

Δεν είναι δυνατή η εκτέλεση της ενέργειας από το σύστημα αυτή τη στιγμή. Προσπαθήστε ξανά αργότερα.

Άρθρα 1–20

Παραθέσεις ανά έτος

Διπλότυπες αναφορές

Συγχωνευμένες αναφορές

Προσθήκη από κοινού συγγραφέωνΣυν-συγγραφείς

Παρακολούθηση

Παρατίθεται από

Συν-συγγραφείς