Joshua Taillon

Παρατίθεται από

	Όλα	Από το 2020
Παραθέσεις	720	510
h-index	11	8
i10-index	11	8

120

20142015201620172018201920202021202220232024202510 9 23 32 63 72 85 109 93 109 96 17

Δημόσια πρόσβαση

Προβολή όλων

7 άρθρα

0 άρθρα

διαθέσιμα

μη διαθέσιμα

Σύμφωνα με εντολές χρηματοδότησης

Συν-συγγραφείς

Lourdes G Salamanca-RibaUniversity of MarylandΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα umd.edu
Tomas OstaseviciusUniversity of CambridgeΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα cam.ac.uk
Francisco de la PeñaLecturerΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα univ-lille1.fr
Thomas AarholtUniversity of OsloΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα smn.uio.no
Eric D. WachsmanProfessor and Director, Maryland Energy Innovation InstituteΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα umd.edu
Christopher PellegrinelliUniversity of MarylandΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα umd.edu
Pierre BurdetEPFLΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα epfl.ch
Alberto EljarratZeiss SMT GmbHΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα physik.hu-berlin.de
Tom FurnivalDepartment of Materials Science & Metallurgy, University of CambridgeΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα cam.ac.uk
Katherine E. MacArthurOxford InstrumentsΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα oxinst.com
Tsvetanka ZhelevaUS Army Research LabΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα mail.mil
Aivars LelisARLΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα mail.mil
Leonard FeldmanProfessor of Physics and Materials ScienceΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα rutgers.edu
Magnus NordNorwegian University of Science and TechnologyΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα ntnu.no
June LauNational Institute of Standards and TechnologyΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα nist.gov
John RozenIBM TJ Watson Research CenterΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα us.ibm.com
Gretchen GreeneNational Institute of Standards and TechnologyΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα nist.gov
Vadim MigunovErnst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) and Peter GrünbergΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα fz-juelich.de
Jan CaronForschungszentrum Jülich GmbHΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα fz-juelich.de
Marina S. LeiteUniversity of California, DavisΗ διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα ucdavis.edu

Παρακολούθηση

Joshua Taillon

National Institute of Standard and Technology - Boulder, CO

Η διεύθυνση ηλεκτρονικού ταχυδρομείου έχει επαληθευτεί στον τομέα nist.gov - Αρχική σελίδα

Scientific data curation Machine learning for materials Materials microscopy Open science Data dissemination


Τίτλος Ταξινόμηση με βάση τις αναφορές Ταξινόμηση κατά έτος Ταξινόμηση κατά τίτλο	Παρατίθεται από Παρατίθεται από	Έτος
hyperspy/hyperspy: Release v1. 7.0 F De La Peña, E Prestat, V Tonaas Fauske, P Burdet, J Lähnemann, ... Zenodo, 2022	276*	2022
Electron microscopy (big and small) data analysis with the open source software package HyperSpy F de la Peña, T Ostasevicius, VT Fauske, P Burdet, P Jokubauskas, ... Microscopy and Microanalysis 23 (S1), 214-215, 2017	100	2017
Improving microstructural quantification in FIB/SEM nanotomography JA Taillon, C Pellegrinelli, Y Huang, ED Wachsman, LG Salamanca-Riba Ultramicroscopy 184 (A), 24, 2018	66	2018
Near-field optical properties of fully alloyed noble metal nanoparticles C Gong, MRS Dias, GC Wessler, JA Taillon, LG Salamanca-Riba, ... Adv. Opt. Mater 5 (1), 1600568, 2017	56	2017
Systematic structural and chemical characterization of the transition layer at the interface of NO-annealed 4H-SiC/SiO2 metal-oxide-semiconductor field-effect transistors JA Taillon, J Hyuk Yang, CA Ahyi, J Rozen, JR Williams, LC Feldman, ... Journal of Applied Physics 113 (4), 2013	46	2013
Long-term Cr poisoning effect on LSCF-GDC composite cathodes sintered at different temperatures C Xiong, JA Taillon, C Pellegrinelli, YL Huang, LG Salamanca-Riba, ... Journal of The Electrochemical Society 163 (9), F1091, 2016	34	2016
Towards a fundamental understanding of the cathode degradation mechanisms ED Wachsman, YL Huang, C Pellegrinelli, JA Taillon, ... ECS Transactions 61 (1), 47, 2014	20	2014
NexusLIMS: a laboratory information management system for shared-use electron microscopy facilities JA Taillon, TF Bina, RL Plante, MW Newrock, GR Greene, JW Lau Microscopy and Microanalysis 27 (3), 511-527, 2021	19	2021
Characterization of zinc carboxylates in an oil paint test panel C Romano, T Lam, GA Newsome, JA Taillon, N Little, J Tsang Studies in Conservation 65 (1), 14-27, 2020	18	2020
Boron-doped few-walled carbon nanotubes: novel synthesis and properties C Preston, D Song, JA Taillon, J Cumings, L Hu Nanotechnology 27 (44), 445601, 2016	14	2016
Investigating the relationship between operating conditions and SOFC cathode degradation C Pellegrinelli, YL Huang, JA Taillon, LG Salamanca-Riba, ... ECS Transactions 68 (1), 773, 2015	12	2015
Three dimensional microstructural characterization of cathode degradation in SOFCs using focused ion beam and SEM JA Taillon, C Pellegrinelli, Y Huang, ED Wachsman, LG Salamanca-Riba ECS Transactions 61 (1), 109, 2014	7	2014
Analysis of the electronic and chemical structure in boron and phosphorus passivated 4H-SiC/SiO2 interfaces using HRTEM and STEM-EELS JA Taillon, CJ Klingshirn, C Jiao, Y Zheng, S Dhar, TS Zheleva, AJ Lelis, ... Applied Physics Letters 113, 193503, 2018	6	2018
Advanced analytical microscopy at the nanoscale: Applications in wide bandgap and solid oxide fuel cell materials JA Taillon University of Maryland, College Park, 2016	6	2016
A study of SOFC cathode degradation in H2O environments C Pellegrinelli, YL Huang, JA Taillon, LG Salamanca-Riba, ... ECS Transactions 64 (2), 17, 2014	6	2014
pquinn dls, Ben Martineau, Gaël Donval, Robert McLeod, Eric R F de la Pena, E Prestat, VT Fauske, P Burdet, P Jokubauskas, M Nord, ... Hoglund, Ivo Alxneit, Daniel Lundeby, Trond Henninen, Luiz Fernando Zagonel …, 0	5
hyperspy/hyperspy: v2. 1.1 F de la Peña, E Prestat, V Tonaas Fauske, J Lähnemann, P Burdet, ... Zenodo, 2024	4	2024
Harvesting microscopy experimental context with a configurable laboratory information management system JA Taillon, RF Devers, RL Plante, MW Newrock, JW Lau, G Greene Microscopy and Microanalysis 25 (S2), 140-141, 2019	4	2019
Three Dimensional Microstructural Characterization of Cathode Degradation in SOFCs Using FIB/SEM and TEM JA Taillon, C Pellegrinelli, Y Huang, E Wachsman, L Salamanca-Riba Microscopy and Microanalysis 21, 2161, 2015	4	2015
Characterization of the Oxide-Semiconductor Interface in 4H-SiC/SiO2 Structures using TEM and XPS JA Taillon, K Gaskell, G Liu, L Feldman, S Dahr, T Zheleva, A Lelis, ... Microscopy and Microanalysis 21, 1537, 2015	4	2015

Δεν είναι δυνατή η εκτέλεση της ενέργειας από το σύστημα αυτή τη στιγμή. Προσπαθήστε ξανά αργότερα.

Άρθρα 1–20

Παραθέσεις ανά έτος

Διπλότυπες αναφορές

Συγχωνευμένες αναφορές

Προσθήκη από κοινού συγγραφέωνΣυν-συγγραφείς

Παρακολούθηση

Παρατίθεται από

Συν-συγγραφείς