Takashi Sekiguchi

Takashi Sekiguchi

Faculty of Pure & Applied Sciences, Univ. Tsukuba
Dirección de correo verificada de u.tsukuba.ac.jp
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Electron Microscopy defects in semiconductors
Seibt

Seibt

Professor of Physics, Goettingen University
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Defects in Semiconductors Transmission electron microscopy Structure and properties of interfaces
S.K. Estreicher

SK Estreicher

Texas Tech University
Dirección de correo verificada de ttu.edu
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defects in semiconductors
Lutz Kirste

Lutz Kirste

Dr. rer. nat., Fraunhofer IAF
Dirección de correo verificada de iaf.fraunhofer.de
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Defects in semiconductors
Behrang H. Hamadani

Behrang H. Hamadani

National Institute of Standards and Technology
Dirección de correo verificada de nist.gov
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photovoltaics wide bandgap materials device characterization physics defects in semiconductors
Lourdes Pelaz

Lourdes Pelaz

University of Valladolid
Dirección de correo verificada de ele.uva.es
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Semiconductor process modeling defects in semiconductors
Damien West

Damien West

Research Scientist, Rensselaer Polytechnic Institute
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defects in semiconductors statistical physics topological insulators
Susanne Mirbt

Susanne Mirbt

Professor of Physics, Uppsala University
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defects in semiconductors polarons interfaces
Ravindran Vidya

Ravindran Vidya

Associate Professor, Department of Physics, Anna University
Dirección de correo verificada de annauniv.edu
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Density functional calculations Perovskite Oxides Transition-metal Oxides Defects in semiconductors Optical properties
Roman Gröger

Roman Gröger

Institute of Physics of Materials, Czech Academy of Sciences
Dirección de correo verificada de ipm.cz
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atomistic simulations dislocations coarse-graining defects in semiconductors image simulation
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