IR spectroscopic investigation of SiO2 film structure IP Lisovskii, VG Litovchenko, VG Lozinskii, GI Steblovskii
Thin Solid Films 213 (2), 164-169, 1992
126 1992 IR study of short-range and local order in SiO2 and SiOx films IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, SI Frolov, H Flietner, W Fussel, ...
Journal of non-crystalline solids 187, 91-95, 1995
95 1995 Structure of the modified surface layer formed by ion bombardment of SiO2 films IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, VP Melnik, SI Frolov
Thin Solid Films 247 (2), 264-270, 1994
16 1994 Применение алмазоподобных углеродных пленок для просветления кристаллов полуизолируещого GaAs в ИК-области спектра НИ Клюй, АИ Липтуга, ВБ Лозинский, АН Лукьянов, АП Оксанич, ...
Письма в ЖТФ 38 (13), 27-34, 2012
6 2012 Effect of UV annealing of radiation damage in SiO2 films IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii
Applied surface science 86 (1-4), 299-302, 1995
6 1995 Processes of formation of buried insulating layer in Si at implantation of N+ and O+ ions BN Romanjuk, VG Popov, AY Prokofjev, IP Lisovskii, VB Lozinskii, ...
UKRAINSKII FIZICHESKII ZHURNAL 37 (3), 389-393, 1992
4 1992 CHARACTERISTICS OF OXYGEN-CONTAINING SILICON SINGLE-CRYSTALS SUBJECTED TO LONG-TERM THERMAL TREATMENTS IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, VG Popov, BN Romanyuk, ...
UKRAINSKII FIZICHESKII ZHURNAL 39 (1), 68-73, 1994
3 1994 Повышение деградационной стойкости кристаллов полуизолирующего арсенида галлия плазменными обработками НИ Клюй, АИ Липтуга, ВБ Лозинский, АП Оксанич, ВА Тербан, ...
Письма в ЖТФ 38 (22), 2012
2 2012 Вплив термічних відпалів на оптичні властивості пластин напівізолюючого арсеніду галію, легованих телуром МІ Клюй, МГ Когдась, АІ Ліптуга, ВБ Лозінський, АП Оксанич, ...
Автоматизированные системы управления и приборы автоматики, 136-141, 2013
1 2013 Ионно-плазменная обработка монокристаллов Cd1-xZnxTe (x~ 0.04) и оптическое просветление алмазоподобными углеродными пленками НИ Клюй, ВБ Лозинский, АН Лукьянов, ВА Мороженко, РК Савкина, ...
Журнал технической физики 82 (8), 83-88, 2012
1 2012 Optical characterization of the structure of SIPOS layers IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, EV Mischenko, W Fussel
International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for …, 1995
1 1995 Структурні та морфологічні властивості нанометрових вуглецевих плівок, отриманих розпиленням графіту електронним променем ВО Юхимчук, ВМ Джаган, ОФ Ісаєва, ПМ Литвин, АА Корчовий, ...
Український фізичний журнал, 766-773, 2023
2023 Effect of TiO2 Layers Thickness Inhomogeneity on Transport of Charge Carriers in Disperse Dye Solar Cells II Ivanov, VB Lozinskii, VP Kasatkin
Sumy State University, 2017
2017 Влияние имплантации H на оптические свойства кристаллов полуизолирующего арсенида галлия в ИК-области спектра НИ Клюй, ВБ Лозинский, АИ Липтуга, ВН Дикуша, АП Оксанич, ...
Физика и техника полупроводников 51 (3), 317-321, 2017
2017 Вплив телуру на деградаційну стійкість кристалів напівізолюючого арсеніду галію МІ Клюй, АІ Ліптуга, ВБ Лозінський, АП Оксанич, СЕ Притчин, ...
Український фізичний журнал, 1094-1098, 2014
2014 Мультидзеркальна фасеточна концентраторна установка МІ Клюй, АВ Макаров, ВБ Лозінський, ВП Темченко
ХНУРЭ, 2012
2012 РОЗРОБКА МЕТОДИКИ ТА ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ ДІАГНОСТИКИ СТРУКТУРНОЇ ДОСКОНАЛОСТІ І РІВНЯ МЕХАНІЧНИХ НАПРУЖЕНЬ В ТОНКИХ ПРИПОВЕРХНЕВИХ ШАРАХ КРЕМНІЮ МІ Клюй, АМ Лук’янов, ВБ Лозінський, АП Оксанич, ФВ Фомовський
Напівпровідникові матеріали, інформаційні технології та фотовольтаї-ка. Тези …, 2011
2011 ІНКАПСУЛЯЦІЯ КРЕМНІЄВИХ СОНЯЧНИХ МОДУЛІВ З ВИКОРИСТАННЯМ СИЛІКОНОВИХ КАУЧУКІВ АВ Макаров, МІ Клюй, ВБ Лозінський, ІД Северінова
Напівпровідникові матеріали, інформаційні технології та фотовольтаї-ка. Тези …, 2011
2011 IR Study of Buried Layer Structure on Different Stages of Technology VG Litovchenko, IP Lisovskii, VB Lozinskii, BN Romanyuk, VP Melnik
Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices, 157-162, 1995
1995 Optical characterization of SIPOS layers structure IP Lisovskii, VG Litovchenko, VB Lozinskii, EV Mischenko, W Fussel
Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering, 165-170, 1995
1995