نمایه‌‌ها

نمایه‌‌ها

نمایه من کتابخانه من

Gerald jellison

Senior Scientist, Oak Ridge National Laboratory

ایمیل تأیید شده در ornl.gov

بیان شده در 16363 یافته

Ellipsometry thin films optical properties NMR of glasses

Juan Antonio Zapien

City Uniiversity of Hong Kong

ایمیل تأیید شده در cityu.edu.hk

بیان شده در 13121 یافته

Optical properties nanomaterials thin films ellipsometry nanophotonics

Hiroyuki Fujiwara

Gifu University

ایمیل تأیید شده در gifu-u.ac.jp

بیان شده در 11914 یافته

Solar cells Photovoltaics Ellipsometry Optical characterization

Maria Isabel Alonso

Institut de Ciència de Materials de Barcelona (ICMAB-CSIC)

ایمیل تأیید شده در icmab.es

بیان شده در 9047 یافته

Semiconductors Ellipsometry SERS FDTR MBE

Michele Magnozzi

Researcher

ایمیل تأیید شده در fisica.unige.it

بیان شده در 5743 یافته

Optical Materials Ellipsometry Thin films Optical coatings

Alain Diebold

University at Albany, SUNY

ایمیل تأیید شده در albany.edu

بیان شده در 5285 یافته

Characterization Metrology microscopy ellipsometry

Alexandr Dejneka

Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences

ایمیل تأیید شده در fzu.cz

بیان شده در 5280 یافته

optics biophysics thin films ellipsometry

Shiyuan Liu (刘世元)

Huazhong University of Science and Technology

ایمیل تأیید شده در hust.edu.cn

بیان شده در 5271 یافته

Ellipsometry Scatterometry Nanometrology Defect Inspection Thin Film Characterization

Prof. Dr. Sofyan Taya

Islamic University of Gaza

ایمیل تأیید شده در iugaza.edu.ps

بیان شده در 5144 یافته

Optical waveguides Optical waveguide sensing Ellipsometry Dye-sensitized solar cells OLEDs

Martin Feneberg

Researcher, Otto von Guericke University Magdeburg

ایمیل تأیید شده در ovgu.de

بیان شده در 5056 یافته

semiconductor optics wide bandgap semiconductors III-nitrides ellipsometry Raman and luminescence

1 - 10