Hanki oma profiili
Viittaukset
Kaikki | 2020 lähtien | |
---|---|---|
Sitaatit | 2019 | 466 |
h-indeksi | 21 | 11 |
i10-indeksi | 41 | 14 |
Yleisessä käytössä
Näytä kaikki12 artikkelia
0 artikkelia
käytettävissä
ei käytettävissä
Perustuu rahoitusehtoihin
Muut kirjoittajat
Felix Meliformer head of length, nano- and microtechnologyVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa metas.ch
Diego F GroszGrupo de Comunicaciones Ópticas, Depto. de Ing. en Telecomunicaciones, Centro Atómico BarilocheVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa ib.edu.ar
Anjali AgarwalCACIVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa caci.com
Rudolf ThalmannHead of sector, Federal Institute of Metrology METASVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa metas.ch
Luc ThévenazProfessor at EPFL Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, School of Engineering, Institute ofVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa epfl.ch
Juerg LeutholdInstitute of Electromagnetic Fields (IEF), ETH Zurich, Zurich, SwitzerlandVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa ethz.ch
Sethumadhavan ChandrasekharRetired Nokia Bell LabsVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa ieee.org
Xiang LiuHuawei TechnologiesVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa ieee.org
Chris XuIBM Chair Professor of Applied and Engineering Physics, Cornell UniversityVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa cornell.edu
Christopher DoerrAcacia CommunicationsVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa acacia-inc.com
A.M. IonescuProfessor of NanoelectronicsVahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa epfl.ch
Seuraa![Alain Küng](https://usercontent.cljtscd.com/citations?view_op=medium_photo&user=21jnSjgAAAAJ&citpid=2)
Alain Küng
Swiss Federal Institute of Metrology METAS
Vahvistettu sähköpostiosoite verkkotunnuksessa metas.ch