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Coauteurs
Hongbin LiCharles and Rosanna Batchelor Memorial Chair Professor, Stevens Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de stevens.edu
Danilo OrlandoUniversità di PisaAdresse e-mail validée de unipi.it
B HimedAir Force Research LaboratoryAdresse e-mail validée de us.af.mil
Shuwen XuXidian university, Mcmaster university, Full ProfessorAdresse e-mail validée de mail.xidian.edu.cn
Jian XueXi’an University of Posts and TelecommunicationsAdresse e-mail validée de xupt.edu.cn
Bo TangHefei, Anhui Province, ChinaAdresse e-mail validée de mails.tsinghua.edu.cn
Guolong CuiUniversity of Electronic Science and Technology of ChinaAdresse e-mail validée de uestc.edu.cn
Wei LiBeijing Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de ieee.org
Xiang-Gen XiaDepartment of Electrical and Computer Engineering, University of Delaware, Newark, DE 19716, USAAdresse e-mail validée de ee.udel.edu
Xin ZhangAptivAdresse e-mail validée de aptiv.com
Alfonso Farinaself
Pia AddabboUniversità degli studi del Sannio