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Coauteurs
Taiichi OtsujiRIEC, Tohoku UniversityAdresse e-mail validée de riec.tohoku.ac.jp
Omnia SamyPhD candidate, UAEUAdresse e-mail validée de uaeu.ac.ae
Tetsuya SuemitsuTohoku UniversityAdresse e-mail validée de tohoku.ac.jp
WOJCIECH KNAPCENTERA LABORATORIES - Polish Academy of Sciences and Technical University WARSAW POLANDAdresse e-mail validée de unipress.waw.pl
Ho-Jin SongProfessor, POSTECH, IEEE FellowAdresse e-mail validée de postech.ac.kr
Muhammad Danang BirowosutoŁukasiewicz Research Network - PORT Polish Center for Technology DevelopmentAdresse e-mail validée de port.org.pl
Jeremie TorresAssociate Professor (ORCID: 0000-0001-5874-0990), Université de MontpellierAdresse e-mail validée de umontpellier.fr
Frédéric TeppeDirector of research - CNRS - Laboratoire Charles CoulombAdresse e-mail validée de umontpellier.fr
Adel NajarNTT Basic Research Laboratories- JapanAdresse e-mail validée de lab.ntt.co.jp
Christophe PalermoInstitut d'Electronique et des Systèmes, Université de MontpellierAdresse e-mail validée de univ-montp2.fr
Hirokazu Fukidome電子工学、表面科学、電気化学Adresse e-mail validée de riec.tohoku.ac.jp
JESUS ENRIQUE VELAZQUEZ PEREZUNIVERSIDAD DE SALAMANCAAdresse e-mail validée de usal.es
Hideyuki NosakaRitsumeikan UniversityAdresse e-mail validée de fc.ritsumei.ac.jp
Kristel FobeletsReader in microelectronics, Electrical Engineering, Imperial College LondonAdresse e-mail validée de imperial.ac.uk
ENRIQUE DIEZUniversidad de SalamancaAdresse e-mail validée de usal.es
Annick PENARIERMaître de conférences, Université MontpellierAdresse e-mail validée de ies.univ-montp2.fr
Hugues MarinchioProfesseur en CPGEAdresse e-mail validée de ac-toulouse.fr
Hyun-Chul KangSemiconductor R&D Center, SAMSUNG Electronics Co., Ltd.Adresse e-mail validée de samsung.com
Takayuki watanabeKyushu UniversityAdresse e-mail validée de chem-eng.kyushu-u.ac.jp
Silvia H. ChanSpaceX Corp., University of California Santa BarbaraAdresse e-mail validée de ece.ucsb.edu