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Coauteurs
Peng JiangProfessor of Chemical Engineering, University of FloridaAdresse e-mail validée de che.ufl.edu
Yongliang NiUniversity of FloridaAdresse e-mail validée de ufl.edu
Vito BasileInstitute of Intelligent Industrial Technologies and Systems for Advanced Manufacturing STIIMAAdresse e-mail validée de stiima.cnr.it
W. Gregory SawyerMoffitt Cancer CenterAdresse e-mail validée de moffitt.org
Edward J MCCumiskeyUniversity of FloridaAdresse e-mail validée de ufl.edu
Gregory SalamoProfessor of Physics, University of ArkansasAdresse e-mail validée de uark.edu
Michael D. DelpFlorida State UniversityAdresse e-mail validée de fsu.edu
Kam K. LeangUniversity of Utah Robotics Center and Dept. of Mechanical EngineeringAdresse e-mail validée de utah.edu
Bijoyraj SahuPh.D., University of FloridaAdresse e-mail validée de ufl.edu
Euclydes Marega Jr.University of Sao Paulo (USP)Adresse e-mail validée de ifsc.usp.br
Ghatu SubhashMechanical EngineeringAdresse e-mail validée de ufl.edu
Nicolas ArgibayDOE Ames National Laboratory - Division of Materials Science and EngineeringAdresse e-mail validée de ameslab.gov
Kathryn L HarrisRISE Research Institutes of SwedenAdresse e-mail validée de ri.se
Ning ZhangAssistant Professor, Baylor UniversityAdresse e-mail validée de baylor.edu
Youping ChenUniversity of FloridaAdresse e-mail validée de ufl.edu
James T. McLeskey, Jr.Randolph-Macon CollegeAdresse e-mail validée de rmc.edu
Toshikazu NishidaUniversity of FloridaAdresse e-mail validée de ufl.edu
Gerald BourneColorado School of MinesAdresse e-mail validée de mines.edu
Viswanath SankarQuality and Reliability Engineer, Intel CorporationAdresse e-mail validée de intel.com
Henry A SodanoUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu