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Coauteurs
Xueyu HouECE Department, the University of MaineAdresse e-mail validée de maine.edu
Tao HanNew Jersey Institute of TechnologyAdresse e-mail validée de njit.edu
Bo HanGeorge Mason UniversityAdresse e-mail validée de gmu.edu
Nan WuGeorge Mason UniversityAdresse e-mail validée de gmu.edu
Ning ZhangCRC, RSC College Member, University of Windsor, CanadaAdresse e-mail validée de uwindsor.ca
Nakjung ChoiBell LabsAdresse e-mail validée de nokia-bell-labs.com
Ahan KakMTS, Nokia Bell LabsAdresse e-mail validée de ahan.me
Van-Quan PhamMTS, Nokia Bell Labs USAAdresse e-mail validée de nokia-bell-labs.com
Trung Thiều HữuNokia Bell LabsAdresse e-mail validée de nokia-bell-labs.com
Ramanujan K SheshadriNokia Bell LabsAdresse e-mail validée de nokia-bell-labs.com
Luocheng WangUniversity of North Carolina at CharlotteAdresse e-mail validée de uncc.edu
Tiefu ZhaoLead Engineer at Eaton Corporation Innovation CenterAdresse e-mail validée de ieee.org