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Coauteurs
- Tien Khee NgPrincipal Scientist, KAUST; Fellow of IET, Fellow of IOPAdresse e-mail validée de kaust.edu.sa
- Chao ShenFudan UniversityAdresse e-mail validée de ieee.org
- Omar AlkhazragiUniversity of MichiganAdresse e-mail validée de umich.edu
- Chun Hong KangKing Abdullah University of Science and Technology (KAUST)Adresse e-mail validée de kaust.edu.sa
- Chao ZhaoProfessor, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences; Fellow of IOPAdresse e-mail validée de semi.ac.cn
- Hassan Makine OubeiKing Abdullah University of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de kaust.edu.sa
- Islam AshrySenior Research Scientist at KAUSTAdresse e-mail validée de kaust.edu.sa
- Davide PrianteCoherent Corp.Adresse e-mail validée de unm.edu
- Xiaobin SunSenior Engineer, HuaweiAdresse e-mail validée de huawei.com
- Abderrahmen TrichiliUniversity of OxfordAdresse e-mail validée de eng.ox.ac.uk
- Yujian GuoKing Abdullah University of Science & TechnologyAdresse e-mail validée de kaust.edu.sa
- Meiwei KongResearch Fellow, School of Ocean and Earth Science, Tongji UniversityAdresse e-mail validée de tongji.edu.cn
- Mohammed Zahed M. KhanSenior Lecturer, Electrical and Electronics Engg, School of EBE, Anglia Ruskin UniversityAdresse e-mail validée de aru.ac.uk
- HAIDING SUNProfessor of University of Science and Technology of ChinaAdresse e-mail validée de ustc.edu.cn
- Jorge A. Holguín-LermaCorning IncorporatedAdresse e-mail validée de corning.com
- Nasir AlfarajUniversity of TorontoAdresse e-mail validée de utoronto.ca
- Huafan ZhangKing Abdullah University of Science and TechnologyAdresse e-mail validée de kaust.edu.sa