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Wenxing LiHarbin Engineering UniversityAdresse e-mail validée de hrbeu.edu.cn
Xiaoguang LiuSouthern University of Science and Technology (SUSTech), ChinaAdresse e-mail validée de sustech.edu.cn
Raj MittraProfessor, Penn State UniversityAdresse e-mail validée de ieee.org
Badong ChenProfessor of Xi'an Jiaotong University, Xi'an, ChinaAdresse e-mail validée de mail.xjtu.edu.cn
Yuriy ZakharovUniversity of YorkAdresse e-mail validée de york.ac.uk
Felix AlbuValahia University of Targoviste, RomaniaAdresse e-mail validée de valahia.ro
Wentao MaXi‘an University of TechnologyAdresse e-mail validée de xaut.edu.cn
J. C. M. BermudezUniversidade Federal de Santa CatarinaAdresse e-mail validée de ieee.org
Manos TentzerisGeorgia TechAdresse e-mail validée de ece.gatech.edu
William WhittowProfessor in Radiofrequency Materials, Loughborough University, UKAdresse e-mail validée de lboro.ac.uk
Tao JiangAssociate Professor, Department of Civil Engineering, Zhejiang UniveristyAdresse e-mail validée de zju.edu.cn