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Coauteurs
Won Jong YooProfessor of Sungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Xiaochi Liu 刘晓迟School of Physics, Central South UniversityAdresse e-mail validée de csu.edu.cn
Daeyeong LeeSamsumg ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
Min Sup ChoiDepartment of Materials Science and Engineering, Chungnam National UniversityAdresse e-mail validée de cnu.ac.kr
Huamin LiAssociate Professor, University at BuffaloAdresse e-mail validée de buffalo.edu
Ming Huang (黄明)University of Electronic Science and Technology of China; Nanyang Technological University.Adresse e-mail validée de uestc.edu.cn
Rodney RuoffThe IBS CMCM, Dept. of Chemistry, Dept. of MS&ESchool of Energy and ChEng,Adresse e-mail validée de unist.ac.kr
James C. HoneDepartment of Mechanical Engineering, Columbia UniversityAdresse e-mail validée de columbia.edu
mandakini biswalPost proctorial Research Fellow at CMCM, UNIST, South KoreaAdresse e-mail validée de ibs.re.kr
Changsik KimSKKU Advanced Institute of Nano Technology, Sungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
T.TaniguchiNational Institute for Materials ScienceAdresse e-mail validée de nims.go.jp
Inyong MoonSungkyunkwan UniversityAdresse e-mail validée de skku.edu
Alan SeabaughProfessor of Electrical Engineering, University of Notre DameAdresse e-mail validée de nd.edu
Faisal AhmedAalto UniveristyAdresse e-mail validée de aalto.fi