Vipul Chaudhary

2013201420152016201720182019202020212022202320245 8 5 18 14 21 9 11 4 4 5 5

Subhadeep MukhopadhyayIntel; Former Principal Engineer in TSMC; Former Ph.D. student, Indian Institute Of TechnologyAdresse e-mail validée de intel.com
Souvik MahapatraProfessor, EE Dept, IIT Bombay (Fellow of IEEE, INSA, IASc, INAE)Adresse e-mail validée de ee.iitb.ac.in

Vipul Chaudhary

Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Bombay

Adresse e-mail validée de iitb.ac.in


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HKMG process impact on N, P BTI: Role of thermal IL scaling, IL/HK integration and post HK nitridation K Joshi, S Hung, S Mukhopadhyay, V Chaudhary, N Nanaware, ... 2013 IEEE international reliability physics symposium (IRPS), 4C. 2.1-4C. 2.10, 2013	65	2013
Trap generation in IL and HK layers during BTI/TDDB stress in scaled HKMG N and P MOSFETs S Mukhopadhyay, K Joshi, V Chaudhary, N Goel, S De, RK Pandey, ... 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, GD. 3.1-GD. 3.11, 2014	44	2014

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