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Yasufumi FujiwaraOsaka UniversityAdresse e-mail validée de mat.eng.osaka-u.ac.jp
Volkmar DierolfLehigh UniversityAdresse e-mail validée de lehigh.edu
Dolf TimmermanOsaka UniversityAdresse e-mail validée de mat.eng.osaka-u.ac.jp
T. GregorkiewiczProfessor of Optoelectronic Materials, University of AmsterdamAdresse e-mail validée de uva.nl
Jonathan D. PoplawskyOak Ridge National LaboratoryAdresse e-mail validée de ornl.gov
Donghwa LeePohang University of Science and Technology (POSTECH)Adresse e-mail validée de postech.ac.kr
Ruoqiao WeiGoogleAdresse e-mail validée de lehigh.edu
Dong-gun LeeSamsung Electronics Co., Ltd.Adresse e-mail validée de samsung.com
Eduardo AlvesFull Researcher, DECN, Instituto Superior Técnico, Universidade de LisboaAdresse e-mail validée de tecnico.ulisboa.pt
Atsushi NishikawaALLOS semiconductors GmbHAdresse e-mail validée de allos-semiconductors.com