| Ion microprobe for studying clusters ion decay reactions V.M.Rotshteyn, A.D.Bekkerman, N.Kh.Dzhemilev Surf. and Interf. Analysis 15 (№10), p.587-591, 1990 | 49 | 1990 |
| Direct detection of morphine in human urine by surface-ionization mass spectrometry DT Usmanov, SD Akhunov, U Khasanov, VM Rotshteyn, BS Kasimov European Journal of Mass Spectrometry 26 (2), 153-157, 2020 | 21 | 2020 |
| Development of surface ionization mass spectrometry for detection of stimulants in human urine S Akhunov, K Ashurov, S Axmedov, B Kasimov, V Rotshteyn, A Radjabov, ... European Journal of Mass Spectrometry 27 (1), 29-38, 2021 | 9 | 2021 |
| Сrystallinity and size control of silicon nanoparticles synthesized from monosilane in glow-discharge plasma RK Ashurov, TK Turdaliev, IK Ashurov, VM Rotshteyn Applied Solar Energy 53, 334-337, 2017 | 9 | 2017 |
| Analysis of porous nanosilicon by Raman spectroscopy VM Rotshteyn, TK Turdaliev, KB Ashurov Journal of applied spectroscopy 89 (1), 104-109, 2022 | 5 | 2022 |
| On the question of the possibility of using nanocrystalline porous silicon in silicon-based solar cells VM Rotshteyn, TK Turdaliev, KB Ashurov Applied Solar Energy 57 (6), 480-485, 2021 | 5 | 2021 |
| Method for Preparing Trialkoxysilane, Patent EP 2 754 664 (B1), Pub. Date: 28.12. 2016 K Ashurov, V Rotshteyn, SI Yang, Y Kim, B Abdurakhmanov, A Salimboev Bulletin 52, 2016, 2016 | 5 | 2016 |
| Method for preparing monosilane using trialkoxysilane TJ Kim, YI Kim, KY Kim, DY Kim, A Khatam, S Shavkat, V Rotshteyn, ... US Patent 9,278,864, 2016 | 4 | 2016 |
| Исследование кремния, легированного ионами бора, спектроскопией комбинационного рассеяния (Raman spectroscopy) ШТ Хожиев, ВМ Ротштейн, СС Пак, АА Ганиев Научно-практический журнал Высшая школа, 38-42, 2020 | 3 | 2020 |
| Cleaning the surface of products with glow discharge plasma Arustamov V.N.,Ashurov R.Kh.,Rotshteyn V.M.,Ashurov Kh.B. Journal of Physics: Conference Series 1686 (2020) 012013 IOP …, 2020 | 2 | 2020 |
| Method for preparing trialkoxysilane SI Yang, YI Kim, KY Kim, DY Kim, A Khatam, A Boris, V Rotshteyn, ... US Patent 9,156,861, 2015 | 2 | 2015 |
| Patent JP5836489 (B2) Pub KB Ashurov, VM Rotshteyn Date: Dec 24, 2015 | 2 | 2015 |
| Fragmentation of sputtered vanadium and niobium clusters, kinetic energy release and dissociation energy NH Dzhemilev, VM Rotshtein, OF Tukfatullin, ST Khozhiev Масс-спектрометрия 8 (1), 33-38, 2011 | 2 | 2011 |
| Метод экспресс-анализа триэтоксисилана ВМ Ротштейн, ХБ Ашуров, РХ Ашуров Журнал прикладной спектроскопии 88 (4), 550-555, 2021 | 1 | 2021 |
| Комплексные исследования качества компонентов, присутствующих в технологии синтеза моносилана, с помощью аналитических приборов ВМ Ротштейн, ХБ Ашуров, РХ Ашуров «Узбекский физический журнал» 22 (5), 314-324, 2020 | 1 | 2020 |
| ИССЛЕДОВАНИЕ СПЕКТРОВ ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ ОБРАЗЦОВ СЕЛЕНИДА ЦИНКА МЕТОДОМ РАМАНОВСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ШТ Хожиев, ВМ Ротштейн, РХ Ашуров, АА Ганиев, ГАУ Кушиев Universum: Технические науки: электронный научный журнал N 4-1(73), с. 45-48, 2020 | 1 | 2020 |
| Исследование поверхности кремния имплантированного ионами меди ШТ Хожиев, АА Ганиев, ВМ Ротштейн, ИО Косимов, ДМ Муродкобилов Международный научно-исследовательский журнал, 54-58, 2020 | 1 | 2020 |
| Emission of large heteronuclear cluster ions during sputtering of graphite by cesium ions AD Bekkerman, NK Dzhemilev, VM Rotshteyn Technical Physics Letters 19 (3), 177-179, 1993 | 1 | 1993 |
| THE FRAGMENTATION OF POSITIVE-ION SILICON CLUSTERS (N= 2-12) DURING SECONDARY ION EMISSION AD Bekkerman, NK Dzhemilev, VM Rotshteyn IZVESTIYA AKADEMII NAUK SSSR SERIYA FIZICHESKAYA 54 (7), 1339-1342, 1990 | 1 | 1990 |
| MONOMOLECULAR DECAYS OF ALN+ (N-LESS-THAN-25) AND SIN+ (N-LESS-THAN-12) CLUSTERS SPUTTERED BY IONIC BOMBARDMENT AD Bekkerman, NK Dzhemilev, VM Rotshteyn Pisma v Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki 16 (4), 58-62, 1990 | 1 | 1990 |
