オープン アクセスを義務付けられた論文 - Dae-Hyun Kim詳細
一般には非公開: 1 件
Front-end of line and middle-of-line time-dependent dielectric breakdown reliability simulator for logic circuits
K Yang, T Liu, R Zhang, DH Kim, L Milor
Microelectronics Reliability 76, 81-86, 2017
委任: US Department of Defense
一般公開: 2 件
Optimal accelerated test regions for time-dependent dielectric breakdown lifetime parameters estimation in FinFET technology
K Yang, R Zhang, T Liu, DH Kim, L Milor
2018 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 1-6, 2018
委任: US National Science Foundation
Analysis of errors in estimating wearout characteristics of time-dependent dielectric breakdown using system-level accelerated life test
DH Kim, L Milor
Microelectronics Reliability 76, 47-52, 2017
委任: US Department of Defense
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