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51
51
h-index
1
1
i10-index
1
1
0
24
12
2022
2023
2024
2025
8
15
24
4
공동 저자
Menglin Huang
Fudan University
fudan.edu.cn의 이메일 확인됨
Shanshan Wang
Fudan University
fudan.edu.cn의 이메일 확인됨
Shiyou Chen (陈时友)
Professor, East China Normal University
ee.ecnu.edu.cn의 이메일 확인됨
팔로우
Xinjing Guo
Fudan University
m.fudan.edu.cn의 이메일 확인됨 -
홈페이지
Reliability of Advanced Devices
학술자료
인용
공동 저자
제목
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연도순 정렬
제목순 정렬
인용
인용
연도
DASP: Defect and dopant ab-initio simulation package
M Huang, Z Zheng, Z Dai, X Guo, S Wang, L Jiang, J Wei, S Chen
Journal of Semiconductors 43 (4), 042101
, 2022
51
2022
Si/SiO
MOSFET Reliability Physics: From Four-State Model to All-State Model
X Guo, M Huang, S Chen
arXiv preprint arXiv:2411.04823
, 2024
2024
Hybrid functional calculation of intrinsic defects in SbSeI
X GUO, M Huang, S Chen
Bulletin of the American Physical Society
, 2024
2024
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