Ron Schrimpf

Geciteerd door

	Alles	Sinds 2020
Citaties	30083	8381
h-index	87	41
i10-index	552	267

1900

950

475

1425

19941995199619971998199920002001200220032004200520062007200820092010201120122013201420152016201720182019202020212022202320242025150 192 219 188 219 179 265 183 284 381 527 372 542 729 1027 909 1081 1501 1241 1513 1395 1784 1422 1585 1588 1725 1459 1806 1580 1764 1574 195

Openbare toegang

Alles bekijken

88 artikelen

69 artikelen

beschikbaar

niet beschikbaar

Op basis van financieringsmachtigingen

Medeauteurs

Daniel M. FleetwoodProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Robert A ReedVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
SOKRATES T. PANTELIDESProfessor of Physics, Vanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Kenneth GallowayVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Enxia ZhangUniversity of Central FloridaGeverifieerd e-mailadres voor ucf.edu
Michael AllesVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Robert A. WellerVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Lloyd MassengillVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Arthur WitulskiResearch Professor Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Brian SierawskiResearch Associate Professor, Vanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Andrew SternbergVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Marcus Mendenhallnist or vanderbilt or caltechGeverifieerd e-mailadres voor nist.gov
Bharat BhuvaVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Kevin WarrenVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Dennis R. BallStaff Engineer, Vanderbilt universityGeverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu
Dimitri LintenImecGeverifieerd e-mailadres voor imec.be
Jonathan PellishNASA Goddard Space Flight CenterGeverifieerd e-mailadres voor nasa.gov
Sergey RashkeevPrincipal Scientist, Acting Research Director, Qatar Environment & Energy Research InstituteGeverifieerd e-mailadres voor qf.org.qa
Dale P. McMorrowNaval Research LaboratoryGeverifieerd e-mailadres voor nrl.navy.mil
Steven KosierVanderbilt UniversityGeverifieerd e-mailadres voor Vanderbilt.edu

Volgen

Ron Schrimpf

Professor of Electrical Engineering, Vanderbilt University

Geverifieerd e-mailadres voor vanderbilt.edu

Semiconductor Devices Microelectronics Radiation Effects in Electronics


Titel Sorteren op citaties Sorteren op jaar Sorteren op titel	Geciteerd door Geciteerd door	Jaar
Charge collection and charge sharing in a 130 nm CMOS technology OA Amusan, AF Witulski, LW Massengill, BL Bhuva, PR Fleming, ML Alles, ... IEEE Transactions on nuclear science 53 (6), 3253-3258, 2006	491	2006
Response of advanced bipolar processes to ionizing radiation EW Enlow, RL Pease, W Combs, RD Schrimpf, RN Nowlin IEEE transactions on nuclear science 38 (6), 1342-1351, 1991	415	1991
Physical mechanisms contributing to enhanced bipolar gain degradation at low dose rates DM Fleetwood, SL Kosier, RN Nowlin, RD Schrimpf, RA Reber, M DeLaus, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 41 (6), 1871-1883, 1994	377	1994
Physical model for enhanced interface-trap formation at low dose rates SN Rashkeev, CR Cirba, DM Fleetwood, RD Schrimpf, SC Witczak, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 49 (6), 2650-2655, 2002	298	2002
Monte Carlo simulation of single event effects RA Weller, MH Mendenhall, RA Reed, RD Schrimpf, KM Warren, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 57 (4), 1726-1746, 2010	293	2010
Defect generation by hydrogen at the Si-SiO2 interface SN Rashkeev, DM Fleetwood, RD Schrimpf, ST Pantelides Physical review letters 87 (16), 165506, 2001	249	2001
Charge separation for bipolar transistors SL Kosier, RD Schrimpf, RN Nowlin, DM Fleetwood, M DeLaus, RL Pease, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 40 (6), 1276-1285, 1993	241	1993
ELDRS in bipolar linear circuits: A review RL Pease, RD Schrimpf, DM Fleetwood 2008 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and …, 2008	238	2008
Structure, Properties, and Dynamics of Oxygen Vacancies in Amorphous SiO2 ZY Lu, CJ Nicklaw, DM Fleetwood, RD Schrimpf, ST Pantelides Physical review letters 89 (28), 285505, 2002	238	2002
Impact of low-energy proton induced upsets on test methods and rate predictions BD Sierawski, JA Pellish, RA Reed, RD Schrimpf, KM Warren, RA Weller, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 56 (6), 3085-3092, 2009	233	2009
Characterization of digital single event transient pulse-widths in 130-nm and 90-nm CMOS technologies B Narasimham, BL Bhuva, RD Schrimpf, LW Massengill, MJ Gadlage, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 54 (6), 2506-2511, 2007	231	2007
Single event transient pulse widths in digital microcircuits MJ Gadlage, RD Schrimpf, JM Benedetto, PH Eaton, DG Mavis, M Sibley, ... IEEE transactions on nuclear science 51 (6), 3285-3290, 2004	223	2004
Unified model of hole trapping, 1/f noise, and thermally stimulated current in MOS devices DM Fleetwood, HD Xiong, ZY Lu, CJ Nicklaw, JA Felix, RD Schrimpf, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 49 (6), 2674-2683, 2002	212	2002
Proton-irradiation effects on AlGaN/AlN/GaN high electron mobility transistors X Hu, AP Karmarkar, B Jun, DM Fleetwood, RD Schrimpf, RD Geil, ... IEEE Transactions on Nuclear Science 50 (6), 1791-1796, 2003	204	2003
The contribution of nuclear reactions to heavy ion single event upset cross-section measurements in a high-density SEU hardened SRAM KM Warren, RA Weller, MH Mendenhall, RA Reed, DR Ball, CL Howe, ... IEEE transactions on nuclear science 52 (6), 2125-2131, 2005	203	2005
Radiation effects at low electric fields in thermal, SIMOX, and bipolar-base oxides DM Fleetwood, LC Riewe, JR Schwank, SC Witczak, RD Schrimpf IEEE Transactions on Nuclear Science 43 (6), 2537-2546, 1996	202	1996
Trends in the total-dose response of modern bipolar transistors RN Nowlin, EW Enlow, RD Schrimpf, WE Combs IEEE Transactions on Nuclear Science 39 (6), 2026-2035, 1992	198	1992
Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices RD Schrimpf, DM Fleetwood World Scientific, 2004	193	2004
The structure, properties, and dynamics of oxygen vacancies in amorphous SiO2 CJ Nicklaw, ZY Lu, DM Fleetwood, RD Schrimpf, ST Pantelides IEEE Transactions on Nuclear Science 49 (6), 2667-2673, 2002	188	2002
Reactions of hydrogen with Si-SiO2 interfaces ST Pantelides, SN Rashkeev, R Buczko, DM Fleetwood, RD Schrimpf IEEE Transactions on Nuclear Science 47 (6), 2262-2268, 2000	185	2000

Het systeem kan de bewerking nu niet uitvoeren. Probeer het later opnieuw.

Artikelen 1–20

Citaties per jaar

Dubbele citaties

Samengevoegde citaties

Medeauteurs toevoegenMedeauteurs

Volgen

Geciteerd door

Medeauteurs