Profile

Vishwani Agrawal

professor of electrical engineering

Zweryfikowany adres z eng.auburn.edu

Cytowane przez 17044

vlsi testing low power design

Janusz Rajski

Vice President of Engineering, Siemens

Zweryfikowany adres z mentor.com

Cytowane przez 16476

Electronic Design Automation VLSI Testing Design For Test

Virendra Singh

Associate Professor of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology Bombay

Zweryfikowany adres z ee.iitb.ac.in

Cytowane przez 11422

Computer Architecture VLSI Testing Dependable Systems Design Formal Verification

Nur Touba

Professor of Electrical and Computer Engineering, University of Texas at Austin

Zweryfikowany adres z ece.utexas.edu

Cytowane przez 10370

VLSI Testing Fault Tolerance Reliability

Xiaowei Li (李晓维)

Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences

Zweryfikowany adres z ict.ac.cn

Cytowane przez 9031

VLSI testing Fault-Tolerant Computing Hardware Security

Shambhu Upadhyaya

Professor of Computer Science and Engineering, University at Buffalo

Zweryfikowany adres z buffalo.edu

Cytowane przez 8808

Computer Security Fault Tolerance VLSI Testing

Cheng-Wen Wu 吳誠文

Department of Electrical Engineering, National Tsing Hua University

Zweryfikowany adres z ee.nthu.edu.tw

Cytowane przez 8786

VLSI Testing Memory Testing Design for Testability

Mehrdad Nourani

University of Texas at Dallas

Zweryfikowany adres z utdallas.edu

Cytowane przez 7032

VLSI Testing Design for Reliability packet processing engines special-purpose system design for biomedical …

Hiroshi Takahashi

Professor, Ehiem UNiversity

Zweryfikowany adres z cs.ehime-u.ac.jp

Cytowane przez 5432

VLSI testing test Fault-tolerant Computing

Sharad Seth

Emeritus Professor

Zweryfikowany adres z cse.unl.edu

Cytowane przez 4927

Document Image Analysis VLSI Testing CMP Cache Management

1 - 10