Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2020 | |
---|---|---|
Cytowania | 1125 | 961 |
h-indeks | 16 | 15 |
i10-indeks | 21 | 21 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko3 artykuły
1 artykuł
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Jiyoung KimProfessor, Department of Materials Science and Engineering, University of Texas at DallasZweryfikowany adres z utdallas.edu
Si Joon KimAssociate Professor, Kangwon National UniversityZweryfikowany adres z kangwon.ac.kr
Jaidah MohanSenior Process Development EngineerZweryfikowany adres z micron.com
Chadwin D. YoungUniversity of Texas at DallasZweryfikowany adres z utdallas.edu
Luigi ColomboUniversity of Texas at DallasZweryfikowany adres z utdallas.edu
Xin MengPhD, Electrical Engineering, The University of Texas at DallasZweryfikowany adres z utdallas.edu
Jaebeom LeeResearch Assistant, Materials Science and Engineering, The University of Texas at DallasZweryfikowany adres z utdallas.edu
Joy S. LeeMaterials Science and Engineering Ph.D. Candidate, University of Texas at DallasZweryfikowany adres z utdallas.edu
Jae-Gil LEESK hynixZweryfikowany adres z sk.com
Lanxia ChengStaff Engineer_EMD ElectronicsZweryfikowany adres z emdgroup.com
YoungChol ByunASM InternationalZweryfikowany adres z asm.com
Seongil ImProfessor of Physics, Yonsei UniversityZweryfikowany adres z yonsei.ac.kr
Hyunjung ShinSungkyunkwan UniversityZweryfikowany adres z skku.edu
Hyoung Joon ChoiDepartment of Physics, Yonsei University, Seoul, KoreaZweryfikowany adres z yonsei.ac.kr