Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2020 | |
---|---|---|
Cytowania | 9129 | 6436 |
h-indeks | 37 | 35 |
i10-indeks | 73 | 70 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko12 artykułów
3 artykuły
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Zhenan BaoStanford UniversityZweryfikowany adres z stanford.edu
Joo Yong SimElectronics and Telecommunications Research InstituteZweryfikowany adres z etri.re.kr
Jin-Oh KimKAIST (Korea Advanced Institute of Science and Technology)Zweryfikowany adres z kaist.ac.kr
Michael VosgueritchianGraduate Student, Stanford UniversityZweryfikowany adres z stanford.edu
Jinwon OhStanford UniversityZweryfikowany adres z stanford.edu
Huiliang (Evan) WangAssistant Professor of Biomedical Engineering, University of Texas at AustinZweryfikowany adres z utexas.edu
Young Jun ParkSamsung Research, Samsung ElectronicsZweryfikowany adres z samsung.com
Ja Hoon KooSejong University, Department of Semiconductor Systems EngineeringZweryfikowany adres z sejong.ac.kr
Julia ReinspachStanford UniversityZweryfikowany adres z stanford.edu
Stefan C. B. MannsfeldTechnische Universität DresdenZweryfikowany adres z tu-dresden.de
Gregory PitnerTSMC Corporate ResearchZweryfikowany adres z pitner.com
Gaurav GiriUniversity of VirginiaZweryfikowany adres z virginia.edu
Hyunjin KimSAITZweryfikowany adres z samsung.com
Luckshitha Suriyasena LiyanageUniversity of Colombo, NIST USA, Applied Materials, Western Digital Corporation, Stanford UniversityZweryfikowany adres z phys.cmb.ac.lk
Ying DiaoChemical and Biomolecular Engineering, University of Illinois at Urbana-ChampaignZweryfikowany adres z illinois.edu
H.-S. Philip WongProfessor of Electrical Engineering, Stanford UniversityZweryfikowany adres z stanford.edu
Tae Hoon LeeStanford UniversityZweryfikowany adres z stanford.edu