Utwórz swój profil
Cytowane przez
Wszystkie | Od 2020 | |
---|---|---|
Cytowania | 847 | 637 |
h-indeks | 15 | 13 |
i10-indeks | 24 | 16 |
Dostęp publiczny
Wyświetl wszystko21 artykułów
8 artykułów
dostępne
niedostępne
Objęte finansowaniem
Współautorzy
Stefano SfarraAssociate Professor, University of L'AquilaZweryfikowany adres z univaq.it
Hai ZhangHarbin Institite of TechnologyZweryfikowany adres z ulaval.ca
Clemente Ibarra-CastanedoUniversité LavalZweryfikowany adres z gel.ulaval.ca
Florian RoemerFraunhofer Institute for Nondestructive Testing IZFP; TU IlmenauZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Ziang WeiUniversity LavalZweryfikowany adres z ulaval.ca
Giovanni Del GaldoProfessor for Electronic Measurements and Signal Processing, Technische Universität IlmenauZweryfikowany adres z iis.fraunhofer.de
Jan KirchhofTechnische Universität Ilmenau, Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverferfahren IZFPZweryfikowany adres z tu-ilmenau.de
Henrique FernandesSenior Lecturer Automated NDT & SHM for Predictive MaintenanceZweryfikowany adres z cranfield.ac.uk
Nico P. AvdelidisUniversity of Southampton (UK) & Université Laval (Canada)Zweryfikowany adres z soton.ac.uk
Udo NetzelmannFraunhofer Institute for Nondestructive TestingZweryfikowany adres z izfp.fraunhofer.de
Obserwuj
Ahmad Osman
Professor for Sensor Technologies, Signal and Image Processing
Zweryfikowany adres z izfp.fraunhofer.de - Strona główna