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Coautores
J Nicholas LanemanProfessor of Electrical Engineering, University of Notre DameE-mail confirmado em nd.edu
Aylin YenerRoy and Lois Chope Professor, The Ohio State UniversityE-mail confirmado em ece.osu.edu
Matthieu BlochProfessor of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of TechnologyE-mail confirmado em ece.gatech.edu
Basak GulerUniversity of California, RiversideE-mail confirmado em ece.ucr.edu
Qiongjie LinSamsung Research America Inc,E-mail confirmado em samsung.com
Prithwish BasuRaytheon BBN TechnologiesE-mail confirmado em bu.edu
Mohammad DakhilalianIsfahan University of Technology, Electrical and Computer Engineering (ECE)E-mail confirmado em iut.ac.ir
Hossein BagheriMotorola
Seguir![Ebrahim MolavianJazi](https://usercontent.cljtscd.com/citations?view_op=view_photo&user=G0PsUTIAAAAJ&citpid=3)
Ebrahim MolavianJazi
Staff Research Engineer - Samsung Research America
E-mail confirmado em alumni.nd.edu