C. M. Jack Wang

Процитировано

	Все	Начиная с 2020 г.
Статистика цитирования	4230	922
h-индекс	35	18
i10-индекс	89	28

280

140

210

1988198919901991199219931994199519961997199819992000200120022003200420052006200720082009201020112012201320142015201620172018201920202021202220232024202515 11 17 15 23 30 28 17 30 44 23 48 45 51 65 70 80 121 148 129 144 185 145 138 183 158 184 170 187 239 272 243 252 188 173 160 136 13

Общий доступ

Просмотреть все

3 статьи

0 статей

доступно

недоступно

На основе финансирования

Соавторы

Dylan F WilliamsNational Institute of Standards and TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
Paul D. HaleNational Institute of Standards and TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене boulder.nist.gov
Christopher L. HollowayNISTПодтвержден адрес электронной почты в домене boulder.nist.gov
Jeffrey JargonNational Institute of Standards and TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
Andrew DienstfreyMathematician, National Institute of Standards and TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
Arkadiusz LewandowskiWarsaw University of TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене elka.pw.edu.pl
Damir SenicNational Institute of Standards and Technology (NIST), BoulderПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
Jan HannigProfessor of Statistics, University of North CarolinaПодтвержден адрес электронной почты в домене unc.edu
Paul A. WilliamsNational Institute of Standards and TechnologyПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
Kent RochfordSPIEПодтвержден адрес электронной почты в домене rochford.net
Ryan J PirklUniversity of TexasПодтвержден адрес электронной почты в домене arlut.utexas.edu
Diogo C. RibeiroUniversity of AveiroПодтвержден адрес электронной почты в домене ua.pt
Jos DortmansElectrical EngineerПодтвержден адрес электронной почты в домене student.tue.nl
Henry RomeroTechnical Staff, MIT Lincoln LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене ll.mit.edu
John H. LehmanNational Institute of Standards and Technology NISTПодтвержден адрес электронной почты в домене boulder.nist.gov
Shellee DyerWeber State UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене weber.edu
Sae Woo NamNISTПодтвержден адрес электронной почты в домене nist.gov
Gordon W. DayNational Institute of Standards and Technology (Emeritus)Подтвержден адрес электронной почты в домене ieee.org
Mark BielerPhysikalisch-Technische BundesanstaltПодтвержден адрес электронной почты в домене ptb.de
Timothy X BrownCarnegie Mellon UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене cmu.edu

C. M. Jack Wang

National Institute of Standards and Technology (Emeritus)

Подтвержден адрес электронной почты в домене boulder.nist.gov

Statistics


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
Location estimation and uncertainty analysis for mobile robots CM Wang Proceedings. 1988 IEEE International Conference on Robotics and Automation …, 1988	280	1988
Confidence intervals on nonnegative linear combinations of variances FA Graybill, CM Wang Journal of the American Statistical Association 75 (372), 869-873, 1980	201	1980
An optimal vector-network-analyzer calibration algorithm DF Williams, JCM Wang, U Arz IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 51 (12), 2391-2401, 2003	162	2003
A statistical study of de-embedding applied to eye diagram analysis PD Hale, J Jargon, CMJ Wang, B Grossman, M Claudius, JL Torres, ... IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 61 (2), 475-488, 2011	149	2011
Rotating-polarizer polarimeter for accurate retardance measurement PA Williams, AH Rose, CM Wang Applied optics 36 (25), 6466-6472, 1997	134	1997
Hydrogen cyanide H13C14N absorption reference for 1530 nm to 1565 nm wavelength calibration–SRM 2519a SL Gilbert, WC Swann, CM Wang NIST special publication 260-137, 2005	129	2005
Calibration of sampling oscilloscopes with high-speed photodiodes TS Clement, PD Hale, DF Williams, CM Wang, A Dienstfrey, DA Keenan IEEE Transactions on microwave theory and techniques 54 (8), 3173-3181, 2006	119	2006
Models and confidence intervals for true values in interlaboratory trials HK Iyer, CMJ Wang, T Mathew Journal of the American Statistical Association 99 (468), 1060-1071, 2004	119	2004
An optimal multiline TRL calibration algorithm DF Williams, CM Wang, U Arz IEEE MTT S International Microwave Symposium Digest 3, 1819-1822, 2003	116	2003
Verdet constant dispersion in annealed optical fiber current sensors AH Rose, SM Etzel, CM Wang Journal of Lightwave Technology 15 (5), 803-807, 1997	113	1997
Compensation of random and systematic timing errors in sampling oscilloscopes PD Hale, CM Wang, DF Williams, KA Remley, JD Wepman IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 55 (6), 2146-2154, 2006	112	2006
Covariance-matrix-based vector-network analyzer uncertainty analysis for time-and frequency-domain measurements A Lewandowski, DF Williams, PD Hale, CM Wang, A Dienstfrey IEEE Trans. Microwave Theory Tech 58 (7), 1877-1886, 2010	102	2010
Covariance-based uncertainty analysis of the NIST electrooptic sampling system DF Williams, A Lewandowski, TS Clement, JCM Wang, PD Hale, ... IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 54 (1), 481-491, 2006	92	2006
Configuring and verifying reverberation chambers for testing cellular wireless devices KA Remley, J Dortmans, C Weldon, RD Horansky, TB Meurs, CM Wang, ... IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 58 (3), 661-672, 2016	81	2016
Millimeter-Wave Modulated-Signal and Error-Vector-Magnitude Measurement With Uncertainty K Remley, DF Williams, PD Hale, CM Wang, J Jargon, Y Park IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 63 (5), 1710-1720, 2015	80	2015
Fiducial prediction intervals CM Wang, J Hannig, HK Iyer Journal of Statistical Planning and Inference 142 (7), 1980-1990, 2012	65	2012
Electromagnetic measurements for counterfeit detection of radio frequency identification cards HP Romero, KA Remley, DF Williams, CM Wang IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 57 (5), 1383-1387, 2009	65	2009
A Significance Test for Reverberation-Chamber Measurement Uncertainty in Total Radiated Power of Wireless Devices KA Remley, CMJ Wang, DF Williams, CL Holloway IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 58 (1), 207-219, 2016	64	2016
Traceable waveform calibration with a covariance-based uncertainty analysis PD Hale, A Dienstfrey, JCM Wang, DF Williams, A Lewandowski, ... IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 58 (10), 3554-3568, 2009	63	2009
Estimating the magnitude and phase response of a 50 GHz sampling oscilloscope using the" nose-to-nose" method PD Hale, TS Clement, KJ Coakley, CM Wang, DC DeGroot, AP Verdoni 55th ARFTG Conference Digest 37, 1-8, 2000	61	2000

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Подписаться

Процитировано

Соавторы