Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2020 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 1387 | 374 |
h-индекс | 8 | 7 |
i10-индекс | 8 | 6 |
Соавторы
Rui ZhangCUHKSZ, SRIBD & National University of SingaporeПодтвержден адрес электронной почты в домене nus.edu.sg
Kaibin HuangProfessor and Dept.Head, University of Hong Kong; NAI Fellow; IEEE Fellow; Highly Cited ResearcherПодтвержден адрес электронной почты в домене eee.hku.hk
Liang LiuHighly Cited Researcher, EEE Department, The Hong Kong Polytechnic UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене polyu.edu.hk
Yong Zeng, IEEE FellowSoutheast University, China; Purple Mountain Laboratories, ChinaПодтвержден адрес электронной почты в домене seu.edu.cn
Hyojin LeeQualcomm Technologies Inc.Подтвержден адрес электронной почты в домене postech.ac.kr
Lee JuhoSamsung ElectronicsПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Подписаться![Seunghyun Lee](https://usercontent.cljtscd.com/citations?view_op=view_photo&user=ON7KpEEAAAAJ&citpid=4)
Seunghyun Lee
Samsung Research, Samsung Electronics
Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com