Daniele Rossi

Процитировано

	Все	Начиная с 2020 г.
Статистика цитирования	2702	668
h-индекс	27	14
i10-индекс	57	21

200

100

150

2003200420052006200720082009201020112012201320142015201620172018201920202021202220232024202521 34 54 65 87 118 116 133 115 137 107 159 167 176 175 182 127 152 156 128 100 123 8

Общий доступ

Просмотреть все

36 статей

4 статьи

доступно

недоступно

На основе финансирования

Соавторы

Martin OmanaUniversity of BolognaПодтвержден адрес электронной почты в домене unibo.it
Vasileios TenentesAssociate Professor, University of IoanninaПодтвержден адрес электронной почты в домене arm.com
S KhursheedLecturer (Assistant Professor), University of Liverpool, UKПодтвержден адрес электронной почты в домене liv.ac.uk
Bashir M. Al-HashimiProfessor of Computer Engineering, King’s College LondonПодтвержден адрес электронной почты в домене kcl.ac.uk
Sergio Saponara. Full ProfessorDepartment of Information Engineering, University of PisaПодтвержден адрес электронной почты в домене iet.unipi.it
Fabrizio LombardiInternational Test Conference (ITC) Endowed Chair Professor, Northeastern UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене ece.neu.edu
Gabriele CiarpiDepartment of Information Engineering, University of PisaПодтвержден адрес электронной почты в домене ing.unipi.it
ALESSANDRO PACCAGNELLADipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Università di PadovaПодтвержден адрес электронной почты в домене dei.unipd.it
Turki AlnuayriTaibah UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене taibahu.edu.sa
Dr Basel HalakAssociate Professor,University of SouthamptonПодтвержден адрес электронной почты в домене ecs.soton.ac.uk
Gor PiliposyanQueen's University BelfastПодтвержден адрес электронной почты в домене qub.ac.uk
Krishnendu ChakrabartyFulton Professor of Microelectronics, School of Electrical and Computer and Energy EngineeringПодтвержден адрес электронной почты в домене asu.edu
Sudhakar ReddyDepartment of ECE, University of IowaПодтвержден адрес электронной почты в домене engineering.uiowa.edu

Daniele Rossi

University of Pisa, Italy

Подтвержден адрес электронной почты в домене unipi.it

Design for Test and Reliability Low Power Digital Design Hardware Security RF Electronics


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
A model for transient fault propagation in combinatorial logic M Omana, G Papasso, D Rossi, C Metra 9th IEEE On-Line Testing Symposium, 2003. IOLTS 2003., 111-115, 2003	185	2003
Latch susceptibility to transient faults and new hardening approach M Omana, D Rossi, C Metra IEEE Transactions on Computers 56 (9), 1255-1268, 2007	179	2007
Combating inflammaging through a Mediterranean whole diet approach: the NU-AGE project's conceptual framework and design A Santoro, E Pini, M Scurti, G Palmas, A Berendsen, A Brzozowska, ... Mechanisms of ageing and development 136, 3-13, 2014	161	2014
High-performance robust latches M Omaña, D Rossi, C Metra IEEE Transactions on Computers 59 (11), 1455-1465, 2010	122	2010
Modeling crosstalk effects in CNT bus architectures D Rossi, JM Cazeaux, C Metra, F Lombardi IEEE Transactions on Nanotechnology 6 (2), 133-145, 2007	115	2007
Multiple transient faults in logic: An issue for next generation ICs? D Rossi, M Omana, F Toma, C Metra 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI …, 2005	113	2005
Novel Transient Fault Hardened Static Latch. M Omana, D Rossi, C Metra ITC, 886-892, 2003	99	2003
Modeling and detection of hotspot in shaded photovoltaic cells D Rossi, M Omaña, D Giaffreda, C Metra IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 23 (6 …, 2014	93	2014
Exploiting ECC redundancy to minimize crosstalk impact D Rossi, C Metra, AK Nieuwland, A Katoch IEEE Design & Test of Computers 22 (1), 59-70, 2005	93	2005
Configurable error control scheme for NoC signal integrity D Rossi, P Angelini, C Metra 13th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2007), 43-48, 2007	90	2007
New ECC for crosstalk impact minimization D Rossi, C Metra, AK Nieuwland, A Katoch IEEE design & test of computers 22 (4), 340-348, 2005	68	2005
On transistor level gate sizing for increased robustness to transient faults JM Cazeaux, D Rossi, M Omaña, C Metra, A Chatterjee 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, 23-28, 2005	67	2005
Error correcting code analysis for cache memory high reliability and performance D Rossi, N Timoncini, M Spica, C Metra 2011 Design, Automation & Test in Europe, 1-6, 2011	63	2011
Low Cost NBTI Degradation Detection & Masking Approaches M Omana, D Rossi, N Bosio, C Metra IEEE Transactions on Computers 62 (3), 496-509, 2013	57	2013
Impact of aging phenomena on soft error susceptibility D Rossi, M Omaña, C Metra, A Paccagnella 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and …, 2011	46	2011
Accurate linear model for SET critical charge estimation D Rossi, JM Cazeaux, M Omana, C Metra, A Chatterjee IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems 17 (8 …, 2009	44	2009
Coding scheme for low energy consumption fault-tolerant bus D Rossi, VES Van Dijk, RP Kleihorst, AH Nieuwland, C Metra Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW …, 2002	44	2002
Impact of Bias Temperature Instability on Soft Error Susceptibility D Rossi, M Omaña, C Metra, A Paccagnella IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 23 (4), 743 …, 2015	43	2015
Model for thermal behavior of shaded photovoltaic cells under hot-spot condition D Giaffreda, M Omaña, D Rossi, C Metra 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and …, 2011	43	2011
New high speed CMOS self-checking voter JM Cazeaux, D Rossi, C Metra Proceedings. 10th IEEE International On-Line Testing Symposium, 58-63, 2004	43	2004

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Подписаться

Процитировано

Соавторы