Sergio L. Morelhao

Процитировано

	Все	Начиная с 2020 г.
Статистика цитирования	1263	508
h-индекс	22	12
i10-индекс	44	13

140

105

19921993199419951996199719981999200020012002200320042005200620072008200920102011201220132014201520162017201820192020202120222023202420258 14 4 6 8 8 14 16 10 16 16 20 20 26 25 19 14 38 24 19 31 52 14 17 71 61 92 88 113 71 122 103 91 7

Общий доступ

Просмотреть все

15 статей

0 статей

доступно

недоступно

На основе финансирования

Соавторы

Lisandro Pavie CardosoProfessor Titular Aposentado do Instituto de Física Gleb Wataghin da Universidade Estadual deПодтвержден адрес электронной почты в домене ifi.unicamp.br
Avanci L H Professor de Física, FEI - Centro Universitário da FEIПодтвержден адрес электронной почты в домене fei.edu.br
Stefan KyciaUniversity of GuelphПодтвержден адрес электронной почты в домене uoguelph.ca
Celso I. FornariEPVII, Würzburg UniversitätПодтвержден адрес электронной почты в домене physik.uni-wuerzburg.de
José Marcos SasakiDepartamento de Física, Universidade Federal do Ceará-UFCПодтвержден адрес электронной почты в домене fisica.ufc.br
Paulo Henrique de Oliveira RapplInstituto Nacional de Pesquisas Espaciais-INPEПодтвержден адрес электронной почты в домене inpe.br
Alain André QuivyProfessor, Instituto de Física, Universidade de São PauloПодтвержден адрес электронной почты в домене if.usp.br
Raul O. FreitasBrazilian Synchrotron Light LaboratoryПодтвержден адрес электронной почты в домене lnls.br
Adenilson Oliveira dos SantosFederal University of MaranhãoПодтвержден адрес электронной почты в домене ufma.br
Cesar CusatisFisica, UFPRПодтвержден адрес электронной почты в домене fisica.ufpr.br
Ferenc RieszHUN-REN Centre for Energy Research, Institute for Technical Physics andПодтвержден адрес электронной почты в домене mfa.kfki.hu
G.E.S. BritoProfessor do Departamento de Física Aplicada do Instituto de Física da USPПодтвержден адрес электронной почты в домене if.usp.br
Marcelo Goncalves HonnickeUniversidade Federal da Integração Latino-AmericanaПодтвержден адрес электронной почты в домене unila.edu.br
L C KretlyProfessor Uuniversity of Campinas , UNICAMP, Campinas,SP, BRAZILПодтвержден адрес электронной почты в домене dmo.fee.unicamp.br
Antonio de Campos SachsColaborador no LARC, Escola Politécnica - USPПодтвержден адрес электронной почты в домене larc.usp.br
Jaroslaw Z. DomagalaInstitute of Physics, Polish Academy of Science, Warsaw, PolandПодтвержден адрес электронной почты в домене ifpan.edu.pl
Marcus A R MirandaUniversidade da Integração Internacional da Lusofonia Afro-Brasileira - UnilabПодтвержден адрес электронной почты в домене unilab.edu.br
Alan Silva de MenezesPhysics Department, Federal University of MaranhãoПодтвержден адрес электронной почты в домене ufma.br
Michał LeszczynskiПодтвержден адрес электронной почты в домене unipress.waw.pl

Sergio L. Morelhao

Institute of Physics, University of Sao Paulo, Brazil

Подтвержден адрес электронной почты в домене if.usp.br

X-ray physics in Materials and Life Science


Название По числу цитат По году По названию	Процитировано Процитировано	Год
Structural properties of Bi2Te3 topological insulator thin films grown by molecular beam epitaxy on (111) BaF2 substrates CI Fornari, PHO Rappl, SL Morelhão, E Abramof Journal of Applied Physics 119 (16), 2016	67	2016
Computer simulation tools for x-ray analysis: scattering and diffraction methods SL Morelhão	54	2016
Usage of Scherrer's formula in X-ray diffraction analysis of size distribution in systems of monocrystalline nanoparticles A Valério, SL Morelhao arXiv preprint arXiv:1911.00701, 2019	48	2019
X-ray multiple diffraction phenomenon in the evaluation of semiconductor crystalline perfection SL Morelhão, LP Cardoso Journal of applied crystallography 29 (4), 446-456, 1996	44	1996
Structural properties of heteroepitaxial systems using hybrid multiple diffraction in Renninger scans SL Morelhao, LP Cardoso Journal of applied physics 73 (9), 4218-4226, 1993	41	1993
Preservation of pristine Bi2Te3 thin film topological insulator surface after ex situ mechanical removal of Te capping layer CI Fornari, PHO Rappl, SL Morelhão, TRF Peixoto, H Bentmann, ... APL Materials 4 (10), 2016	40	2016
Molecular beam epitaxy of antiferromagnetic (MnBi2Te4)(Bi2Te3) thin films on BaF2 (111) P Kagerer, CI Fornari, S Buchberger, SL Morelhão, RC Vidal, A Tcakaev, ... Journal of Applied Physics 128 (13), 2020	36	2020
Sensitivity of Bragg surface diffraction to analyze ion-implanted semiconductors MA Hayashi, SL Morelhão, LH Avanci, LP Cardoso, JM Sasaki, LC Kretly, ... Applied Physics Letters 71 (18), 2614-2616, 1997	33	1997
X‐ray imaging in advanced studies of ophthalmic diseases A Antunes, AMV Safatle, PSM Barros, SL Morelhão Medical physics 33 (7Part1), 2338-2343, 2006	32	2006
Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis SL Morelhao, CI Fornari, PHO Rappl, E Abramof Journal of Applied Crystallography 50 (2), 399-410, 2017	30	2017
Nanostructure of sol–gel films by x-ray specular reflectivity SL Morelhão, GES Brito, E Abramof Applied physics letters 80 (3), 407-409, 2002	29	2002
A versatile X-ray diffraction station at LNLS (Brazil) C Cusatis, M Kobayashi Franco, E Kakuno, C Giles, S Morelhão, V Mello, ... Journal of Synchrotron Radiation 5 (3), 491-493, 1998	29	1998
Hybrid multiple diffraction in Renninger scan for heteroepitaxial layers SL Morelhão, LP Cardoso, JM Sasaki, MMG De Carvalho Journal of applied physics 70 (5), 2589-2593, 1991	27	1991
Strain effects on the magnetic order of epitaxial FeRh thin films H Kumar, DR Cornejo, SL Morelhao, S Kycia, IM Montellano, NR Alvarez, ... Journal of Applied Physics 124 (8), 2018	26	2018
Synchrotron X‐ray Renninger scanning for studying strain in InAs/GaAs quantum dot system RO Freitas, TE Lamas, AA Quivy, SL Morelhão physica status solidi (a) 204 (8), 2548-2554, 2007	26	2007
X-ray phase measurements as a probe of small structural changes in doped nonlinear optical crystals SL Morelhao, CMR Remédios, RO Freitas, AO dos Santos Journal of Applied Crystallography 44 (1), 93-101, 2011	25	2011
Enhanced X-ray phase determination by three-beam diffraction SL Morelhão, S Kycia Physical review letters 89 (1), 015501, 2002	25	2002
Strength tuning of multiple waves in crystals SL Morelhão, LH Avanci Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography 57 (2), 192-196, 2001	25	2001
Hybrid reciprocal space for X-ray diffraction in epitaxic layers SL Morelhao, JK Domagala Journal of Applied Crystallography 40 (3), 546-551, 2007	23	2007
An X-ray diffractometer for accurate structural invariant phase determination SL Morelhao Journal of Synchrotron Radiation 10 (3), 236-241, 2003	23	2003

В данный момент система не может выполнить эту операцию. Повторите попытку позднее.

Статьи 1–20

Ссылок за год

Повторяющиеся цитирования

Объединенные цитирования

СоавторыСоавторы

Подписаться

Процитировано

Соавторы