Создать свой профиль
Процитировано
Все | Начиная с 2020 г. | |
---|---|---|
Статистика цитирования | 85 | 83 |
h-индекс | 5 | 5 |
i10-индекс | 3 | 3 |
Соавторы
Boon Loong NgSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Abhishek SehgalSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Anum AliSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене utexas.edu
Hao ChenSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Jianhua Mo (莫建华)Samsung Research America, Plano, TexasПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Yoonsuck ChoeProfessor of Computer Science and Engineering, Texas A&M UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене tamu.edu
Peshal NayakStaff Research EngineerПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Neha DawarSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Han WangSamsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Songwei Listaff Engineer, Samsung Research AmericaПодтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com
Oleg KomogortsevProfessor of Computer Science, Texas State UniversityПодтвержден адрес электронной почты в домене txstate.edu
Ricardo Gutierrez-OsunaTexas A&M University, Computer Science and EngineeringПодтвержден адрес электронной почты в домене tamu.edu
Подписаться![Khuong N. Nguyen](https://usercontent.cljtscd.com/citations?view_op=view_photo&user=nN8odyoAAAAJ&citpid=2)
Khuong N. Nguyen
Samsung Research America
Подтвержден адрес электронной почты в домене samsung.com