Colin Humphreys

Навело

	Све	Од 2020
Наводи	37203	12954
h-индекс	76	34
i10-индекс	412	150

2700

1350

675

2025

19881989199019911992199319941995199619971998199920002001200220032004200520062007200820092010201120122013201420152016201720182019202020212022202320242025115 192 157 186 124 127 121 133 118 163 193 249 162 193 199 246 315 378 470 597 770 840 1004 1232 1346 1504 1581 1765 2089 2019 2188 2319 2408 2495 2447 2429 2655 519

Јавни приступ

Прикажи све

137 чланака

23 чланка

доступно

није доступно

На основу услова финансирања

Коаутори

Rachel OliverProfessor of Materials Science, Cambridge UniversityВерификована је имејл адреса на cam.ac.uk
Philip DawsonUniversity of ManchesterВерификована је имејл адреса на manchester.ac.uk
Gianluigi BottonMcMaster UniversityВерификована је имејл адреса на mcmaster.ca
Michelle MoramSenior Lecturer and Royal Society University Research Fellow, Imperial College LondonВерификована је имејл адреса на imperial.ac.uk
Dandan ZhuUniversity of CambridgeВерификована је имејл адреса на cam.ac.uk
F. C-P. MassabuauUniversity of StrathclydeВерификована је имејл адреса на strath.ac.uk
Chris BoothroydNanyang Technological UniversityВерификована је имејл адреса на ntu.edu.sg
David HolecMontanuniversität Leoben, AustriaВерификована је имејл адреса на unileoben.ac.at
Fabrice OehlerCNRS researcher, Centre for Nanosciences and Nanotechnologies, Université Paris-Saclay (France)Верификована је имејл адреса на c2n.upsaclay.fr
Robert TaylorProfessor of Condensed Matter Physics, University of OxfordВерификована је имејл адреса на physics.ox.ac.uk
T.M. SmeetonVice President, Research at EnvisicsВерификована је имејл адреса на envisics.com
Dr. Darren M. GrahamThe University of ManchesterВерификована је имејл адреса на manchester.ac.uk
Wai Yuen FuResearch Assistant Professor, Electrical and Electronic Engineering, the University of Hong KongВерификована је имејл адреса на hku.hk
Tongtong ZhuUniversity of CambridgeВерификована је имејл адреса на cam.ac.uk
James Thomas GriffithsResearch associate, University of CambridgeВерификована је имејл адреса на cam.ac.uk
Ranjan DattaProfessorВерификована је имејл адреса на jncasr.ac.in
Siyuan ZhangMax-Planck-Institut für Eisenforschung GmbHВерификована је имејл адреса на mpie.de
Matthew J. DaviesAttolight AGВерификована је имејл адреса на attolight.com
G A D BriggsProfessor of Nanomaterials, University of OxfordВерификована је имејл адреса на materials.ox.ac.uk
Simon HammersleyResearch Associate, University of ManchesterВерификована је имејл адреса на manchester.ac.uk

Прати

Colin Humphreys

Queen Mary University of London

Верификована је имејл адреса на qmul.ac.uk

Materials science graphene Gallium Nitride electron microscopy science and religion


Наслов Сортирај по наводима Сортирај по години Сортирај по наслову	Навело Навело	Година
Electron-energy-loss spectra and the structural stability of nickel oxide: An LSDA+ U study SL Dudarev, GA Botton, SY Savrasov, CJ Humphreys, AP Sutton Physical Review B 57 (3), 1505, 1998	14502	1998
Solid-state lighting CJ Humphreys MRS bulletin 33 (4), 459-470, 2008	498	2008
Machine learning predicts laboratory earthquakes B Rouet‐Leduc, C Hulbert, N Lubbers, K Barros, CJ Humphreys, ... Geophysical Research Letters 44 (18), 9276-9282, 2017	452	2017
Prospects of III-nitride optoelectronics grown on Si D Zhu, DJ Wallis, CJ Humphreys Reports on Progress in Physics 76 (10), 106501, 2013	403	2013
Electron-beam-induced strain within InGaN quantum wells: False indium “cluster” detection in the transmission electron microscope TM Smeeton, MJ Kappers, JS Barnard, ME Vickers, CJ Humphreys Applied physics letters 83 (26), 5419-5421, 2003	345	2003
The scattering of fast electrons by crystals CJ Humphreys Reports on Progress in Physics 42 (11), 1825, 1979	318	1979
Absorption parameters in electron diffraction theory PBH CJ Humphreys Philosophical Magazine 18, 115-122, 1968	299	1968
Optical and microstructural studies of InGaN∕ GaN single-quantum-well structures DM Graham, A Soltani-Vala, P Dawson, MJ Godfrey, TM Smeeton, ... Journal of applied physics 97 (10), 2005	272	2005
Critical thickness calculations for InGaN/GaN D Holec, P Costa, MJ Kappers, CJ Humphreys Journal of Crystal Growth 303 (1), 314-317, 2007	270	2007
Tunable optoelectronic and ferroelectric properties in Sc-based III-nitrides S Zhang, D Holec, WY Fu, CJ Humphreys, MA Moram Journal of applied physics 114 (13), 2013	249	2013
Luminescence from erbium-doped silicon nanocrystals in silica: Excitation mechanisms AJ Kenyon, CE Chryssou, CW Pitt, T Shimizu-Iwayama, DE Hole, ... Journal of Applied Physics 91 (1), 367-374, 2002	249	2002
Correlation of contact resistance with microstructure for Au/Ni/Al/Ti/AlGaN/GaN ohmic contacts using transmission electron microscopy AN Bright, PJ Thomas, M Weyland, DM Tricker, CJ Humphreys, R Davies Journal of Applied Physics 89 (6), 3143-3150, 2001	225	2001
Carrier localization mechanisms in InGaN/GaN quantum wells D Watson-Parris, MJ Godfrey, P Dawson, RA Oliver, MJ Galtrey, ... Physical Review B—Condensed Matter and Materials Physics 83 (11), 115321, 2011	218	2011
Three-dimensional atom probe studies of an InxGa1− xN∕ GaN multiple quantum well structure: Assessment of possible indium clustering MJ Galtrey, RA Oliver, MJ Kappers, CJ Humphreys, DJ Stokes, PH Clifton, ... Applied physics letters 90 (6), 2007	210	2007
Dislocation nucleation near the critical thickness in GeSi/Si strained layers DJ Eaglesham, EP Kvam, DM Maher, CJ Humphreys, JC Bean Philosophical Magazine A 59 (5), 1059-1073, 1989	196	1989
Chemical mapping and formation of V-defects in InGaN multiple quantum wells N Sharma, P Thomas, D Tricker, C Humphreys Applied Physics Letters 77 (9), 1274-1276, 2000	182	2000
Dopant profiling with the scanning electron microscope—A study of Si SL Elliott, RF Broom, CJ Humphreys Journal of applied physics 91 (11), 9116-9122, 2002	181	2002
InGaN quantum dots grown by metalorganic vapor phase epitaxy employing a post-growth nitrogen anneal RA Oliver, GAD Briggs, MJ Kappers, CJ Humphreys, S Yasin, JH Rice, ... Applied Physics Letters 83 (4), 755-757, 2003	180	2003
Understanding x-ray diffraction of nonpolar gallium nitride films MA Moram, CF Johnston, JL Hollander, MJ Kappers, CJ Humphreys Journal of Applied Physics 105 (11), 2009	177	2009
A dynamical theory for the contrast of perfect and imperfect crystals in the scanning electron microscope using backscattered electrons CJHPBH JP Spencer Philosophical Magazine 26, 193-213, 1972	171	1972

Систем тренутно не може да изврши ову радњу. Пробајте поново касније.

Чланци 1–20

Годишњи број навода

Дупли наводи

Обједињени наводи

Додавање коаутораКоаутори

Прати

Навело

Коаутори