個人資料

Gerald jellison

Senior Scientist, Oak Ridge National Laboratory

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Ellipsometry thin films optical properties NMR of glasses

Juan Antonio Zapien

City Uniiversity of Hong Kong

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Optical properties nanomaterials thin films ellipsometry nanophotonics

Hiroyuki Fujiwara

Gifu University

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Solar cells Photovoltaics Ellipsometry Optical characterization

Maria Isabel Alonso

Institut de Ciència de Materials de Barcelona (ICMAB-CSIC)

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Semiconductors Ellipsometry SERS FDTR MBE

Michele Magnozzi

Researcher

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Optical Materials Ellipsometry Thin films Optical coatings

Alain Diebold

University at Albany, SUNY

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Characterization Metrology microscopy ellipsometry

Alexandr Dejneka

Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences

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optics biophysics thin films ellipsometry

Shiyuan Liu (刘世元)

Huazhong University of Science and Technology

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Ellipsometry Scatterometry Nanometrology Defect Inspection Thin Film Characterization

Prof. Dr. Sofyan Taya

Islamic University of Gaza

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Optical waveguides Optical waveguide sensing Ellipsometry Dye-sensitized solar cells OLEDs

Martin Feneberg

Researcher, Otto von Guericke University Magdeburg

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semiconductor optics wide bandgap semiconductors III-nitrides ellipsometry Raman and luminescence

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