Improving the Precision of Optical Metrology by Detecting Fewer Photons

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[PDF][PDF] 基于弱值的量子精密测量与量子层析研究进展

胥亮， 张利剑 - Laser & Optoelectronics Progress, 2021 - researching.cn
摘要为了描述对前, 后选择的量子系统进行弱测量的测量结果, Aharonov, Albert 和Vaidman
在1988 年提出了弱值的概念. 可观测量的弱值在取值上可以突破可观测量的最大本征值 …
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