Modélisation des phénomènes de transport dans les structures MOS
F Bourouba - 2018 - dspace.univ-setif.dz
La course a la miniaturisation des circuits intégrés provoque l'apparition d'un certain nombre
de et s parasites, venant dégrader les caractéristiques électriques des dispositifs. Ce sont …
de et s parasites, venant dégrader les caractéristiques électriques des dispositifs. Ce sont …