Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems

W Toczek, Z Czaja - Microelectronics Reliability, 2011 - Elsevier
A new Built-In-Self-Test scheme for diagnosis of analog fully differential linear circuits
embedded in a mixed-signal microsystem is presented. Only single testing frequency is …

[PDF][PDF] Algorithmization of the Failed Subschemes Localization Process

AF Verlan, SA Polozhaenko… - Herald of advanced …, 2019 - irbis-nbuv.gov.ua
Approaches to the algorithmization of the process of localizing faulty subschemes of a wide
class of electrical devices (in particular, electrical and electronic) are considered …

Diagnostics of Linear Systems in the State Space

А Верлань, С Положаенко - Problemele Energeticii Regionale, 2019 - ibn.idsi.md
The analysis of the state of the problem of quality ensurance and proper functioning of
electrical systems and devices was carried out. It showed that not only the complete feasibil …

[PDF][PDF] An Application of TCRBF Neural Network in Multi-node Fault Diagnosis Method

Z Czaja, M Kowalewski - IMEKO XIX World Congress, Lisbon, Portugal, 2009 - Citeseer
Abstract− This paper presents the new self-testing method for diagnosis of analog parts in
mixed-signal embedded systems controlled by microcontrollers. The tested analog part is …

[PDF][PDF] Fault diagnosis of fully differential circuits in electronic embedded systems

Z Czaja, W Toczek - XIX IMEKO World Congress Fundamental and …, 2009 - researchgate.net
Abstract− A new Built-In-Self-Test scheme for diagnosis of analog fully differential circuits in
embedded mixed-signal microsystems is presented. The measurement procedure is …

[PDF][PDF] A simple fault diagnosis method for analog parts of electronic embedded systems

Z Czaja - XIX IMEKO World Congress Fundamental and Applied …, 2009 - imeko2009.it.pt
Abstract− A new simple method of single soft fault detection and localization of analog parts
in embedded electronic systems controlled by microcontrollers is presented. In the pre …

[PDF][PDF] Anatoli F. Verlan1, Dr. of Tech. Sciences, Professor, Leading Researcher Institute for Modeling Problems in Energy GE Pukhov NAS of Ukraine, E-mail …

LL Prokofieva, VP Shylov - Simulation, 2019 - academia.edu
Approaches to the algorithmization of the process of localizing faulty subschemes of a wide
class of electrical devices (in particular, electrical and electronic) are considered …

Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych

Z Czaja - Przegląd Elektrotechniczny, 2010 - infona.pl
W artykule przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych,
takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów …

Диагностирование линейных систем в пространстве состояний

АФ Верлань, СА Положаенко - Проблемы региональной …, 2019 - cyberleninka.ru
Выполнен анализ состояния проблемы обеспечения качества и исправного
функционирования электротехнических систем и устройств, который показал, что …

Алгоритмізація процесу локалізації несправних підсхем

АФ Верлань, СА Положаєнко… - Вісник сучасних …, 2019 - hait.od.ua
Анотація Розглянуто підходи щодо алгоритмізації процесу локалізації несправних
підсхем широкого класу електротехнічних пристроїв (переважно електричних та …